检测周期：常规到样后7-15个工作日出具双极晶体管试验告

　　样品量：根据客户的试验需要(是否需要制样)，详情可咨询工程师

双极晶体管试验标准

　　GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)

　　ASTM E1855-2010 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损失监视器的试验方法

　　BS EN 150003-1993 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.低频放大用管壳额定双极晶体管

　　BS EN 150标题 2004-1993 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.开关用双极晶体管

　　BS EN 150007-1993 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范.高频放大用管壳额定的双极晶体管

　　CECC 50 002- 022-024 IS 2-1977 环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 025-027 IS 2-1977 正极-负极-正极硅制塑料封装环境评级低频放大用双极晶体管 第1次修订

　　CECC 50 002- 028-029 IS 2-1978 负极-正极-负极硅制金属外壳封装环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 041-045 IS 2-1978 负极-正极-负极硅制塑料封装环境评级低频放大用双极晶体管 第1次修订

　　CECC 50 002- 057-059 IS 2-1977 硅制塑料封装环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 060-062 IS 2-1977 负极-正极-负极硅制塑料封装环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 065-066 IS 2-1977 环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 067-068 IS 2-1977 环境评级低频放大用双极晶体管

　　CECC 50 002- 069 ISSUE 2-1977 环境评级低频放大用双极晶体管 勘误表

　　CECC 50 002- 076-078 IS 2-1978 负极-正极-负极金属外壳封装环境评级低频放大用双极晶体管

北检院优势

　　1、北检院拥有严格的质量控制体系与完善的后期服务

　　2、检测项目覆盖领域广泛

　　3、仪器设备及其他辅助实验设施齐全，持续加强检测研发实力。

　　4、提供全方位解决方案

　　5、注重信息安全：签订保密协议，注重保护客户隐私。

　　6、北检院遵从”诚信、严谨、服务、共赢”的服务理念。

北检院检测流程

　　1、业务受理 ：确定检测需求

　　2、样品寄送 ：客户可选择送样或邮寄样品，北检院亦提供上门取样服务

　　3、样品初检 ：确认样品基本信息、检测用途、执行标准等

　　4、签订协议：注重保护客户隐私

　　5、开始试验：安排费用后进行样品检测

　　6、报告编制：根据实验室上报的数据编写报告草件，确认信息是否无误

　　7、出具报告：后期服务完善，可随时咨询

　　以上是与双极晶体管试验相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。