场效应晶体管检测

　　场效应晶体管检测周期：常规到样后7-15个工作日出具测试报告

　　样品量：根据客户的试验需要(是否需要制样)，详情可咨询工程师

检测项目

　　噪声系数、输出电容、泄漏电流、阀电压、截至电压、源极电阻等

场效应晶体管检测标准

　　GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

　　GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范

　　GB/T 15449-1995 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范

　　GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

　　GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

　　BS IEC 60747-8-4-2004 半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管

　　CECC 50 012- 070 ISSUE 1-1993 BS CECC 50 012-070:单栅极场效应晶体管、N通道增强(英)

　　CECC 50 012- 074 ISSUE 1-1991 NL CECC 50 012-074:N通道双栅极B型场效应晶体管(英)

　　CECC 50 012- 078 ISSUE 1-1993 BS CECC 50 012-078:单栅极场效应晶体管、P通道增强(英)

　　GOST 20398.1-1974 场效应晶体管 直接传输导纳模测量方法

　　GOST 20398.2-1974 场效应晶体管 噪声系数测量方法

　　GOST 20398.3-1974 场效应晶体管 跨导测量方法

　　GOST 20398.4-1974 场效应晶体管 输出导纳有功分量测量方法

　　GOST 20398.5-1974 场效应晶体管 输入电容、旁路电容和输出电容的测量方法

　　GOST 20398.6-1974 场效应晶体管 栅极漏泄电流测量方法

　　GOST 20398.7-1974 场效应晶体管 阈电压和截止电压测量方法

　　GOST 20398.8-1974 场效应晶体管 漏极起始电流测量方法

北检院检测流程

　　1、业务受理 ：确定检测需求

　　2、样品寄送 ：客户可选择送样或邮寄样品，北检院亦提供上门取样服务

　　3、样品初检 ：确认样品基本信息、检测用途、执行标准等

　　4、签订协议：注重保护客户隐私

　　5、开始试验：安排费用后进行样品检测

　　6、报告编制：根据实验室上报的数据编写报告草件，确认信息是否无误

　　7、出具报告：后期服务完善，可随时咨询

以上是与"场效应晶体管检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。