检测周期：常规到样后7-15个工作日出具光纤有源元件测试告

　　样品量：根据客户的试验需要(是否需要制样)，详情可咨询工程师

光纤有源元件测试标准

　　BS EN 62148-5-2003 光纤有源元件和设备 包装和接口标准 第5部分:SC 1×9 光纤模块

　　BS EN 62148-6-2003 光纤有源元件和设备 包装和接口标准 第6部分:ATM-PON收发机

　　BS EN 62148-11-2009 光纤有源元件和设备 包装和接口标准 第11部分:14针调制器集成激光二极管发射机

　　BS EN 62149-4-2010 光纤有源元件和设备 性能标准 第4部分:千兆字节以太网应用的1300nm光纤收发机

　　BS EN 62149-6-2003 光纤有源元件和设备 性能标准 第6部分:650nm 250兆字节/秒塑料光纤收发机

　　CEI EN 62148-2-2012 光纤有源元件和器件.封装和接口标准.第2部分:SFF 10针收发器

　　CEI EN 62148-3-2012 光纤有源元件和器件.封装和接口标准.第3部分:SFF 20针收发器

　　CEI EN 62148-11-2011 光纤有源元件和器件.封装和接口标准.第11部分:14针有源器件模块

　　CEI EN 62148-12-2005 光纤有源元件和器件.封装和接口标准.第12部分:带同轴射频连接器的激光发射器

　　CEI EN 62148-15-2015 光纤有源元件和器件。封装和接口标准。第15部分:分立垂直腔面发射激光封装

　　CEI EN 62148-16-2011 光纤有源元件和器件。封装和接口标准。第16部分:与液晶连接器接口一起使用的发射器和接收器元件

　　CEI EN 62148-17-2014 光纤有源元件和器件.封装和接口标准.第17部分:带双同轴射频连接器的发射器和接收器元件

　　CEI EN 62149-1-2012 光纤有源元件和器件.性能标准.第1部分:总则和指南

　　CEI EN 62149-2-2015 光纤有源元件和器件性能标准第2部分:850纳米离散垂直腔面发射激光器件

　　CEI EN 62149-3-2015 光纤有源元件和器件.性能标准.第3部分:用于2.5千兆比特/秒至40千兆比特/秒光纤传输系统的调制器集成激光二极管发射机

　　CEI EN 62149-4-2011 光纤有源元件和设备.性能标准.第4部分:千兆以太网应用的1 300纳米光纤收发器

　　CEI EN 62149-5-2012 光纤有源元件和器件.性能标准.第5部分:带激光二极管驱动和激光二极管反射集成电路的自动柜员机无源光网络收发器

　　CEI EN 62149-7-2013 光纤有源元件和器件性能标准第7部分:1 310纳米离散垂直腔面发射激光器件

　　CEI EN 62149-8-2015 光纤有源元件和器件.性能标准第8部分:种子反射半导体光放大器器件

　　CEI EN 62149-9-2015 光纤有源元件和器件.性能标准.第9部分:种子反射半导体光放大器收发器

北检院优势

　　1、北检院拥有严格的质量控制体系与完善的后期服务

　　2、检测项目覆盖领域广泛

　　3、仪器设备及其他辅助实验设施齐全，持续加强检测研发实力。

　　4、提供全方位解决方案

　　5、注重信息安全：签订保密协议，注重保护客户隐私。

　　6、北检院遵从”诚信、严谨、服务、共赢”的服务理念。

北检院检测流程

　　1、业务受理 ：确定检测需求

　　2、样品寄送 ：客户可选择送样或邮寄样品，北检院亦提供上门取样服务

　　3、样品初检 ：确认样品基本信息、检测用途、执行标准等

　　4、签订协议：注重保护客户隐私

　　5、开始试验：安排费用后进行样品检测

　　6、报告编制：根据实验室上报的数据编写报告草件，确认信息是否无误

　　7、出具报告：后期服务完善，可随时咨询

　　以上是与光纤有源元件测试相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。