可送检的样品类型与对应检测项目
| 样品类型 | 典型应用场景 | 主要检测项目 | 常用方法 / 参考 |
|---|---|---|---|
| 光刻胶回流微透镜阵列 | 半导体图像传感器、光互连、激光准直 | 单元直径、矢高、面型精度、焦距一致性、与基准标记对准偏差 | 白光干涉轮廓法、显微成像与图像分析法 |
| 玻璃模压微透镜阵列 | 手机摄像模组、红外测温、激光匀光 | 面形保真度、表面疵病、崩边、透过率、折射率均匀性 | 激光干涉法、分光光度法、金相显微观察 |
| 聚合物微透镜阵列 | 裸眼三维显示、背光模组、微型投影 | 填充因子、单元间一致性、行列角度偏差、材料黄变 | 显微轮廓扫描、光学传递函数测试 |
| 熔融石英微透镜阵列 | 紫外激光匀光、光刻照明系统 | 波前差、匀光均匀性、激光损伤阈值、紫外波段透过率 | 干涉波前测量、紫外分光光度法 |
| 硅基与蓝宝石微透镜 | 红外探测器、光纤耦合、气体传感 | 有效焦距、数值孔径、同轴度、红外波段透过率 | 平行光管聚焦测量、显微红外成像 |
| 光纤端面微透镜 | 光纤激光器尾纤、光通信耦合模块 | 工作距离、耦合效率、端面几何参数、角度偏差 | 光纤耦合效率测试、端面干涉检测 |
| 晶圆级微透镜堆栈 | 摄像模组、结构光投射、增强现实光波导 | 层间对准精度、组合焦距、总透过率、环境可靠性 | 影像测量对准分析、高低温环境试验 |
检测项目
1. 几何参数:单元直径10至1000微米,阵列间距偏差不大于正负2微米,矢高0.5至150微米
2. 面型精度:峰谷值不大于0.5倍波长,均方根不大于0.1倍波长,轮廓边缘塌边不大于1微米
3. 焦距与数值孔径:有效焦距20微米至10毫米,数值孔径0.05至0.6,焦距偏差不大于正负百分之二
4. 阵列一致性:单元间焦距极差不大于百分之三,填充因子不低于百分之九十
5. 对准精度:阵列与基准标记对准偏差不大于正负5微米,行列角度偏差不大于0.1度
6. 表面疵病与透过率:划痕麻点按GB/T 1185-2006评级,可见波段镀膜后透过率不低于百分之九十八
检测范围
1. 光刻胶回流微透镜阵列:紫外胶与热回流工艺,方形、圆形、六边形排布
2. 玻璃模压微透镜阵列:光学玻璃与硫系玻璃,可见光与红外系列
3. 聚合物微透镜阵列:PMMA、PDMS与COC材料,注塑与压印成型
4. 熔融石英微透镜阵列:紫外高功率激光匀光与光刻照明用途
5. 硅基与蓝宝石微透镜:红外波段单元透镜与光纤耦合透镜
6. 光纤端面微透镜:单模与多模光纤研磨、热熔及光刻成型端面透镜
检测方法
1. GB/T 1185-2006 光学零件表面疵病
2. GB/T 13323-2009 光学制图
3. ISO 10110-5:2015 光学与光学子系统制图 第5部分表面形状公差
4. GB/T 1958-2017 产品几何技术规范 几何公差检测与验证
5. GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 低温试验方法
6. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 高温试验方法
检测设备
1. 白光干涉轮廓仪:垂直分辨率0.1纳米,扫描范围10毫米乘10毫米
2. 激光干涉仪:面形测量精度峰谷值0.05倍波长,通光口径100毫米
3. 焦距测量系统:平行光管焦距1000毫米,配高分辨率科学级相机
4. 光学传递函数测试系统:空间频率0至200线对每毫米
5. 影像测量仪:行程400毫米乘300毫米,测量精度1.5微米
6. 金相显微镜:放大倍率50至1000倍,明暗场双照明
7. 紫外可见分光光度计:波长190至1100纳米,光谱带宽1纳米
8. 探针式台阶仪:垂直分辨率1纳米,量程1毫米
9. 高低温试验箱:温度范围负70至150摄氏度,波动度正负0.5摄氏度
10. 自动对准检测系统:重复定位精度正负1微米,配视觉定位模块