芯片离子测试

芯片离子测试主要针对芯片及其封装、制造过程中的离子残留与污染情况进行分析,评估可溶性离子种类、含量及分布特征,为器件可靠性、绝缘性能、腐蚀风险控制及工艺洁净度监测提供依据,适用于研发、来料、制程及失效分析环节。

原创阅读 742026-03-20工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.阳离子检测:钠离子,钾离子,铵根离子,镁离子,钙离子。

2.阴离子检测:氯离子,氟离子,溴离子,硝酸根离子,硫酸根离子。

3.有机酸根检测:甲酸根,乙酸根,乳酸根,草酸根,柠檬酸根。

4.无机污染残留检测:酸性残留,碱性残留,盐类残留,助剂离子残留,清洗剂离子残留。

5.表面离子污染检测:芯片表面离子残留,引脚表面离子残留,焊盘表面离子残留,封装表面离子残留,基板表面离子残留。

6.封装材料离子析出检测:塑封料离子析出,底部填充材料离子析出,粘结材料离子析出,保护材料离子析出,绝缘材料离子析出。

7.制程污染检测:蚀刻后离子残留,清洗后离子残留,封装后离子残留,切割后离子残留,装配后离子残留。

8.萃取液离子分析:水萃取离子含量,溶液中阴离子组成,溶液中阳离子组成,酸根分布,离子总量评估。

9.局部污染评估:键合区离子污染,焊接区离子污染,芯片边缘离子污染,裂纹区域离子污染,失效点离子污染。

10.可靠性相关离子检测:腐蚀风险离子,漏电风险离子,迁移风险离子,吸湿相关离子,绝缘失效相关离子。

11.清洁度检测:表面清洁度,离子洁净度,可溶性离子残留,总离子污染水平,清洗效果评估。

12.材料兼容性离子检测:封装材料与芯片接触离子影响,助焊残留离子影响,清洗介质残留影响,工艺药液残留影响,界面离子相容性评估。

检测范围

裸芯片、晶圆、切割芯片、封装芯片、存储芯片、控制芯片、功率芯片、传感芯片、模拟芯片、数字芯片、多层封装芯片、引线框架封装件、球栅阵列封装件、倒装封装件、芯片载板、封装基板、引脚部件、焊球部件、塑封材料、底部填充材料

检测设备

1.离子色谱仪:用于分离和测定样品中阴离子、阳离子及部分有机酸根离子的含量。

2.超纯水制备装置:用于提供低本底萃取和配液用水,降低背景离子对测试结果的干扰。

3.恒温萃取装置:用于控制样品萃取过程中的温度条件,提高离子萃取的一致性与稳定性。

4.超声萃取设备:用于促进芯片表面及材料内部可溶性离子的释放,提升萃取效率。

5.分析天平:用于样品称量和试剂配制,保证测试过程中的质量控制精度。

6.电导率仪:用于测定萃取液电导变化,辅助评估样品整体离子污染水平。

7.酸度计:用于测量萃取液酸碱度,判断残留污染物对体系环境的影响。

8.洁净处理工作台:用于样品前处理和溶液配制,减少环境带入污染对检测结果的影响。

9.过滤装置:用于去除萃取液中的颗粒杂质,保护分析系统并提高检测稳定性。

10.实验室恒温设备:用于样品保存、前处理及测试环境控制,保障检测过程条件一致。

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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