芯片含量试验

检测项目

1.芯片尺寸测定：芯片长宽测量，芯片厚度测量，芯片面积计算，边缘完整性检查

2.芯片数量分析：单体芯片识别，多芯片配置统计，叠层芯片判定，芯片分布位置分析

3.封装构成分析：芯片占比评估，基板构成识别，引线框架识别，包封材料分布分析

4.材料组成鉴别：芯片主体材料分析，焊接材料分析，包封材料分析，界面材料分析

5.芯片含量测算：质量占比测算，面积占比测算，体积占比测算，截面比例测算

6.内部结构观察：芯片层次结构观察，互连结构观察，空洞缺陷检查，裂纹缺陷检查

7.键合连接检测：键合点位置检查，连接完整性分析，脱落情况检查，变形情况分析

8.切片截面分析：截面形貌观察，层间厚度测量，界面结合状态分析，异物夹杂识别

9.热损伤评估：局部烧蚀检查，热影响区域识别，材料碳化情况分析，封装受热变化分析

10.失效特征排查：芯片破裂分析，分层情况分析，腐蚀痕迹检查，电迁移痕迹观察

11.一致性核查：批次间芯片构成比对，样品间尺寸一致性检查，封装结构一致性分析，材料分布一致性评估

12.异物与污染分析：表面污染检查，内部异物识别，残留物分析，污染区域分布判断

检测范围

集成电路、存储芯片、控制芯片、功率器件、传感器芯片、射频器件、分立器件、贴片封装器件、插件封装器件、多芯片封装器件、芯片模组、裸芯片、封装半成品、电子元件来料、失效电子样品

检测设备

1.光学显微镜：用于观察芯片表面形貌、封装外观及局部缺陷，适合开展初步结构检查。

2.金相显微镜：用于观察切片截面组织、层间结构及界面状态，便于分析芯片与封装构成关系。

3.电子显微镜：用于高倍观察微小结构、裂纹、孔洞及界面细节，可提升微观缺陷识别能力。

4.能谱分析仪：用于分析局部区域元素组成，辅助判断芯片材料、焊接材料及污染物成分。

5.红外分析仪：用于识别有机包封材料及界面材料组成特征，辅助开展材料类别判别。

6.射线检测仪：用于无损观察芯片内部排布、空洞分布及连接结构状态，适用于内部结构筛查。

7.切片研磨设备：用于样品开封、研磨和截面制备，为芯片含量及结构分析提供样品基础。

8.精密测厚仪：用于测量芯片厚度、封装层厚度及截面各层尺寸，支持比例测算与结构评估。

9.图像分析系统：用于对显微图像进行面积统计、尺寸测量和比例计算，提高芯片含量分析的量化水平。

10.热分析仪：用于分析材料受热变化特征及热稳定性，辅助评估封装材料和界面材料状态。

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"芯片含量试验"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。