检测项目

1.热机械疲劳测试：温度循环试验，温度冲击试验，高低温存储试验。

2.电应力疲劳测试：高温反偏试验，高加速寿命试验，栅氧完整性测试。

3.机械应力疲劳测试：机械振动试验，机械冲击试验，恒定加速度试验。

4.连接可靠性测试：焊点剪切/拉力试验，键合点拉力/剪切试验，芯片剪切强度测试。

5.金属互连可靠性测试：电迁移测试，应力迁移测试，金属线电流承载能力测试。

6.介电层可靠性测试：经时介电击穿测试，电容电压特性漂移测试。

7.潮湿环境可靠性测试：高压蒸煮试验，温湿度偏压试验。

8.信号完整性疲劳测试：输入输出端口循环应力测试，时钟信号长期稳定性监测。

9.功耗与散热疲劳测试：动态功耗循环测试，结温波动可靠性评估。

10.封装材料疲劳测试：封装体抗弯强度测试，封装材料热膨胀系数匹配性评估。

11.辐射应力疲劳测试：总剂量辐照试验，单粒子效应模拟测试。

检测范围

中央处理器、图形处理器、内存芯片、闪存芯片、固态硬盘主控芯片、通信基带芯片、射频前端模块、电源管理芯片、微控制器、数字信号处理器、现场可编程门阵列、传感器芯片、模拟转换芯片、驱动芯片、功率半导体器件、芯片封装堆叠体、晶圆级封装器件、系统级封装模块、硅通孔互联结构

检测设备

1.高温试验箱：用于提供稳定的高温环境，进行芯片的高温存储及工作寿命试验；具备精确的温度控制与均匀性。

2.温度循环试验箱：用于实现快速的高低温交替变化，考核芯片封装及内部结构的热机械疲劳性能；具有高变温速率。

3.温度冲击试验箱：用于模拟极端温度骤变条件，测试芯片耐温度激烈变化的能力；通常采用两箱法或液槽法。

4.高加速寿命试验系统：通过施加综合环境应力加速芯片失效进程，用于快速评估其可靠性；可同步控制温度、湿度、电压等多参数。

5.振动试验台：用于对芯片及其模块施加不同频率与幅度的机械振动，评估其结构及焊点连接的抗振动疲劳能力。

6.机械冲击试验台：用于模拟运输或使用过程中的瞬间冲击，测试芯片封装和内部连接的抗冲击可靠性。

7.高温反偏试验系统：在高温环境下对芯片施加反向偏置电压，用于评估功率器件及二极管等的长期电热稳定性。

8.电迁移测试系统：通过向金属互连线施加高电流密度，观测其结构随时间的变化，评估互连线的电流承载寿命。

9.芯片键合强度测试仪：用于精确测量芯片与基底之间键合点或焊点的机械强度，包括拉力和剪切力测试模式。

10.参数测试分析仪：在疲劳试验前后及过程中，对芯片的电学参数进行精密测量与监控，以量化其性能衰减程度。