检测项目

漏电流测试：测量范围1nA-10mA，精度±0.5%

导通电阻测试：分辨率0.1mΩ，最大测试电流100A

击穿电压测定：电压范围0-5kV，步进精度±10V

电流-电压特性曲线：扫描速率0.1-100V/s，采样率1MHz

温度漂移测试：温控范围-55℃~150℃，精度±0.5℃

检测范围

半导体材料：硅基/砷化镓晶圆、功率器件芯片

导电薄膜材料：ITO薄膜、金属纳米涂层

电子元件：电容器、连接器、继电器触点

电池材料：正负极材料、隔膜导电性测试

绝缘材料：高分子聚合物、陶瓷基板

检测方法

ASTM F1249：半导体器件漏电流测试标准方法

ISO 16750-2：汽车电子部件电流负载试验规范

GB/T 26248-2010：电子元件导通电阻测量标准

IEC 60695-2-10：材料耐电弧击穿性能测试

GB/T 17626.4：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

检测设备

Keysight B1500A：半导体参数分析仪，支持0.1fA-10A电流扫描

Chroma 19032：高功率电子负载，最大电流1200A，电压1000V

Tektronix PA3000：功率分析仪，带宽5MHz，精度0.03%

HIOKI BT3563：电池测试系统，支持四线法电阻测量

ESPEC T-242：高低温试验箱，温变速率15℃/min

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与电流扫描检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。