一硫化二铟检测

检测项目

1.纯度测定：采用X射线荧光光谱（XRF）或电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES），检测InS主成分含量≥99.5%

2.晶体结构分析：通过X射线衍射（XRD）验证六方晶系结构（空间群P63/mmc），晶胞参数a=3.91,c=16.7

3.粒度分布测试：激光粒度仪测定D50值范围50-200nm，分散系数PDI＜0.3

4.杂质元素检测：原子吸收光谱（AAS）分析Fe、Cu、Pb等重金属含量≤10ppm

5.热稳定性评估：热重分析仪（TGA）测定分解温度＞450℃（氮气氛围）

检测范围

1.半导体级InS单晶材料（电子迁移率＞100cm/Vs）

2.薄膜太阳能电池用InS靶材（密度≥5.7g/cm）

3.光电探测器用纳米InS粉末（比表面积＞15m/g）

4.锂离子电池负极InS复合材料（首次库伦效率≥80%）

5.红外窗口InS镀膜材料（透光率＞70%@1-12μm）

检测方法

ASTME975-2016X射线衍射定量相分析标准

ISO11885:2007水质-电感耦合等离子体发射光谱法

GB/T17433-2014冶金产品化学分析基础术语

GB/T19077-2016粒度分布-激光衍射法

ISO11358-1:2022塑料-聚合物热重分析法

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源，角度精度0.0001

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm

3.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：轴向观测等离子体技术

4.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC同步测量精度0.1μg

5.BrukerS8TIGERXRF光谱仪：4kWRh靶管，可测元素B-U

6.Agilent240ZAA原子吸收光谱仪：石墨炉温度可达3000℃

7.FEINovaNanoSEM450场发射电镜：分辨率0.8nm@15kV

8.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532nm激光器精度0.35cm⁻

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"一硫化二铟检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。