检测项目
波长范围检测：0.1-2.0μm，分辨率±0.05nm
透射率极限测试：精度±0.1%（200-400nm波段）
反射率非线性误差：≤0.3%（ASTM E429标准）
吸收系数测定：0.01-10^4 cm⁻¹（ISO 13468规范）
波长稳定性：±0.02nm/4h（恒温25±0.5℃）
检测范围
光学薄膜：增透膜、分光膜、滤光片
半导体材料：GaN、SiC、Al₂O₃晶圆
纳米材料：量子点、二维材料（MoS₂、石墨烯）
荧光材料：稀土掺杂玻璃、有机发光材料
激光晶体：YAG、蓝宝石、氟化钙
检测方法
分光光度法：ASTM E275-08、GB/T 26824-2011
傅里叶变换光谱法：ISO 15470:2017
光致发光光谱法：GB/T 37841-2019
椭偏仪法：ASTM E903-12
激光干涉法：ISO 10110-5:2015
检测设备
OceanOptics HR4000光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率0.1nm
Agilent Cary 7000分光光度计：支持0.175-3.3μm，双光束设计
Horiba LabRAM HR Evolution显微拉曼系统：激光波长325nm，空间分辨率1μm
Bruker Vertex 80v真空傅里叶红外光谱仪：远红外至紫外波段，波数精度0.07cm⁻¹
J.A. Woollam M-2000V椭偏仪：波长190-1700nm，膜厚测量精度±0.1nm