检测项目

1.表面形貌分析：三维粗糙度Ra≤0.5nm，扫描范围10μm10μm

2.元素分布图谱：能量分辨率≤130eV（EDS），元素检出限0.1wt%

3.晶体结构解析：晶格常数测量精度0.02（TEM选区衍射）

4.分子取向测定：偏振拉曼光谱偏移量2cm⁻

5.缺陷密度统计：位错密度检测下限10⁶/cm（EBSD技术）

检测范围

1.高分子材料：聚乙烯结晶度(60-80%)/聚丙烯立构规整度分析

2.纳米复合材料：量子点尺寸分布(2-10nm)/碳管手性指数判定

3.生物医药样本：蛋白质二级结构α-螺旋含量(30-70%)测定

4.金属合金材料：晶界特征分布(GBCD)Σ3比例(20-60%)统计

5.半导体器件：外延层厚度(50-200nm)/界面缺陷密度(≤10/cm)测量

检测方法

1.ASTME3060-2016拉曼光谱法定量分析晶体取向

2.ISO21363-2020纳米颗粒尺寸分布的TEM测定通则

3.GB/T35099-2018扫描电镜法测量微区成分技术规范

4.ISO16700-2016SEM图像分辨率校准方法

5.GB/T40152-2021原子力显微镜表面粗糙度测量规程

检测设备

1.ThermoFisherSpectra300TEM：配备超级EDS探测器，可实现0.14nm晶格分辨率

2.BrukerDimensionIconAFM：PeakForceTapping模式支持10pN力控精度

3.ZeissGeminiSEM500：束流稳定性≤0.2%/h，二次电子分辨率0.6nm@1kV

4.HORIBALabRAMHREvolution：532nm激光拉曼系统，光谱分辨率0.35cm⁻

5.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD：全自动菊池花样采集速度≥3000点/秒

6.ParkSystemsNX20：非接触模式扫描范围100μm100μm15μm

7.JEOLJSM-7900F：冷场发射SEM搭配五轴样品台60倾转功能

8.Agilent5500AFM：声学噪声隔离系统实现原子级表面成像

9.TESCANMIRA4LMH：聚焦离子束系统定位精度5nm@30kV

10.RigakuSmartLabXRD：平行光路系统支持薄膜材料GIXRD分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与分子图象检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。