检测项目

擦写次数耐久性：≥10^4次循环测试，擦除效率＞99.8%

数据保持能力：高温存储（125℃）条件下≥10年数据稳定性

工作电压范围：2.7V-5.5V全区间功能验证，±5%容差测试

温度特性：-40℃~85℃工作温度范围验证，ΔVt≤0.2V

编程/擦除时间：单字节编程时间≤100μs，整片擦除时间≤20ms

检测范围

紫外线擦除型EPROM（27C系列）

电擦除型EEPROM（28C系列、93C系列）

工业级宽温存储器（-40℃~125℃）

汽车电子用AEC-Q100认证存储器

高密度存储器件（1Mb-16Mb容量级）

检测方法

耐久性测试：ASTM F1572-08(2016)循环耐久性试验方法

数据保持测试：ISO 11452-8:2015电子元件长期存储试验

电气特性测试：GB/T 17574-2021半导体器件通用规范

环境适应性测试：GB/T 2423.3-2016恒定湿热试验方法

ESD防护测试：IEC 61000-4-2:2008静电放电抗扰度试验

检测设备

半导体参数分析仪（Keysight B1500A）：完成Vt电压、漏电流等参数测量

高低温试验箱（ESPEC T-240）：提供-70℃~180℃精确温控环境

编程/擦除时间测试仪（Chroma 33622）：纳秒级时序测量精度

数据保持测试系统（Keysight B2962A）：100fA级低电流测量能力

封装应力测试仪（Dage 4000HS）：进行机械应力与热应力耦合测试