光学物件检测概述:光学物件检测通过非接触式测量技术对光学元件关键性能进行量化分析,核心检测对象涵盖透镜、棱镜、滤光片等透射/反射元件。重点检测项目包括面形精度(RMS值≤λ/10)、表面粗糙度(Ra≤0.5nm)、光谱透过率(偏差±1%)、折射率均匀性(Δn≤5×10⁻⁶)及镀膜附着力(百格测试5B级)。采用干涉仪、分光光度计等设备,依据ISO 10110、GB/T 1185等标准实现微米级缺陷识别与纳米级参数控制。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
光学性能检测:
1. 光学透镜: 球面/非球面透镜检测曲率半径公差±0.05%,面形精度PV≤λ/2
2. 光学棱镜: 直角棱镜角度偏差≤3",二向色性偏差≤5%
3. 光学滤光片: 带通滤光片中心波长偏差±1nm,截止深度OD≥6
4. 光学窗口片: 平行度≤10",表面平整度λ/10@633nm
5. 激光光学元件: 损伤阈值检测(1064nm/10ns≥10J/cm²),波前畸变PV≤λ/4
6. 红外光学材料: 3-5μm/8-12μm波段透过率≥90%,折射率温度系数dn/dT检测
7. 光学镀膜元件: 增透膜剩余反射率≤0.2%,分光膜分光比精度±1%
8. 光纤连接器: 端面曲率半径5-15mm,顶点偏移≤50μm
9. 投影光路组件: 照度均匀性≥95%,MTF空间频率响应检测
10. 光学晶体元件: 双折射均匀性Δn≤5×10⁻⁶,消光比≥30dB
国际标准:
1. 激光干涉仪: ZYGO Verifire HD(波长632.8nm,面形精度λ/1000 RMS)
2. 白光干涉仪: Bruker Contour Elite(垂直分辨率0.1nm,扫描范围100μm)
3. 分光光度计: PerkinElmer Lambda 1050+(波长范围175-3300nm,带宽0.05nm)
4. 精密测角仪: Trioptics OptiAngle Ultra(角度分辨率0.1",精度±0.5")
5. MTF测量仪: Image Science MTF Bench(空间频率0-200lp/mm,不确定度±2%)
6. 应力双折射仪: StrainMatic M4/120(测量范围0-120nm,精度0.2nm)
7. 椭偏仪: J.A. Woollam RC2(波长245-1700nm,膜厚分辨率0.01nm)
8. 激光损伤阈值测试仪: Ophir LIDT-800(能量密度0-50J/cm²,光斑尺寸0.1-5mm)
9. 轮廓仪: Taylor Hobson PGI 3D(Z轴分辨率1nm,扫描速度1mm/s)
10. 高精度球径仪: OptiPro UX300(曲率半径测量范围±100mm,精度0.01%)
11. 偏光分析仪: Thorlabs PAX1000(消光比测量范围0-80dB)
12. 环境试验箱: ESPEC SH-240(温控范围-70℃~180℃,湿度10-98%RH)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光学物件检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。