退银粉检测概述:检测项目 化学成分检测: 主成分分析:硝酸根浓度(30-50%wt)、游离酸度(1-3mol/L)(参照GB/T 9725) 杂质控制:氯离子(≤50ppm)、硫酸根(≤100ppm) 重金属残留:铅(≤5ppm)、镉(≤2ppm) 物理性能检测: 溶解特性:溶解度(≥99.5%)、密度(1.25-1.45g/cm³) 颗粒特性:粒径分布(D50=0.5-5μm)、振实密度(≥1.8g/cm³) 反应效率检测: 银溶解速率:静态浸蚀(≥5mg/cm²·min)、动态喷射(≥8mg/cm²·min) 银层退
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
化学成分检测:
1. 电子接插件退银粉: 重点检测铜基材腐蚀速率及针脚间银残留
2. 半导体键合银层退镀剂: 侧重超低氯离子(≤10ppm)与晶圆表面洁净度
3. 装饰性镀银退除剂: 检测复杂曲面退净率及基体材料兼容性
4. 光伏银浆回收剂: 聚焦银回收率(≥99%)与硅片损伤控制
5. 贵金属合金退银剂: 检测钯/金共溶抑制率(≤0.1%)
6. 多层镀银退除体系: 验证镍阻挡层穿透阈值(≤1μm/h)
7. 高温烧结银层退镀: 检测孔隙渗透深度(≤5μm)
8. 柔性电路退银剂: 评估聚酰亚胺基材溶胀率(≤2%)
9. 银纳米线清除剂: 测量线径选择性(保留≥50nm金线)
10. 银焊料残留清除剂: 检测SnAgCu焊盘腐蚀速率(≤0.05mm/year)
国际标准:
1. 离子色谱仪: ICS-6000型(阴离子检测限0.1ppb)
2. 电感耦合等离子体质谱仪: NEXION 350X(质量范围5-290amu)
3. 旋转腐蚀测试仪: RCE-2000(转速0-5000rpm)
4. 激光粒度分析仪: LS-609(测量范围0.02-2000μm)
5. 电化学工作站: PGSTAT302N(电流分辨率10pA)
6. 热重分析仪: TGA 550(升温速率0.1-100℃/min)
7. 扫描电镜: JSM-7900F(分辨率0.8nm@15kV)
8. X射线衍射仪: D8 ADVANCE(2θ范围-110°~168°)
9. 原子吸收光谱仪: ZEEnit 700P(银检测限0.5ppb)
10. 紫外分光光度计: UV-2600i(波长范围185-900nm)
11. 恒温振荡反应釜: HXC-20(控温精度±0.5℃)
12. 表面张力仪: BZY-101(测量范围0-1000mN/m)
13. 微波消解仪: MDS-6G(压力范围0-1500psi)
14. 金相显微镜: DM2700M(最大倍数1500×)
15. 自动电位滴定仪: T50(精度±0.1μL)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与退银粉检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。