粉末衍射检测概述:检测项目 物相定性分析: 物相鉴定:匹配PDF数据库(ICDD标准),检出限≤1wt% 无标样定量:RIR值法(参照JCPDS标准) 晶体结构精修: 晶胞参数测定:精度±0.0005nm(参照ICSD标准) 原子占位分析:R因子≤5%(Rietveld法) 微观结构表征: 晶粒尺寸计算:Scherrer公式(D<100nm) 微观应变评估:Williamson-Hall法(ε≤0.3%) 残余应力检测: 表面应力测定:sin²ψ法(精度±20MPa) 应力梯度分析:多层剥蚀法(深度分辨率1μm) 织
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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物相定性分析:
1. 金属合金: 钛/镍基高温合金相组成分析,重点检测γ'相含量及晶格错配度
2. 陶瓷材料: 氧化锆相变定量(t→m相变),单斜相含量检测精度±0.1vol%
3. 催化材料: 载体-活性组分相互作用研究,侧重金属分散度及载体晶型稳定性
4. 电池材料: 正极材料层状结构表征,检测阳离子混排度及充放电过程相变
5. 药品晶型: 多晶型定量分析(如利托那韦I/II型),符合药典晶型控制要求
6. 矿物地质: 粘土矿物定性(蒙脱石/高岭石鉴别),重点检测001基底衍射
7. 高分子材料: 结晶度测定(Hermans法),晶胞参数测定精度±0.01nm
8. 纳米粉末: 粒径分布分析(Scherrer-Warren法),检测下限10nm
9. 半导体薄膜: 外延膜取向偏差(ω扫描),摇摆曲线半高宽≤0.1°
10. 考古陶瓷: 烧成温度反演,通过石英晶型转化判定历史温度区间
国际标准:
1. X射线衍射仪: Bruker D8 ADVANCE型(Cu靶λ=1.5406Å,测角仪精度0.0001°)
2. 高温附件: Anton Paar HTK1200N室(温度范围-190℃-1600℃,真空度10⁻⁶mbar)
3. 织构测角仪: Panalytical X'Pert Pro MRD(Ψ角范围0°-360°,方位角分辨率0.0001°)
4. 小角散射仪: Rigaku NANOPIX(q范围0.07-30nm⁻¹,光斑尺寸0.3×0.3mm)
5. 薄膜衍射附件: Parallel beam镜(入射角0.1°-5°,分辨率<0.01°)
6. 应力分析仪: Proto LXRD(Cr靶λ=2.2897Å,Ψ角±45°自动倾斜)
7. 原位电池附件: BeDense电池腔(充放电电流±5mA,电压范围0-5V)
8. 低温样品台: Oxford PheniX(液氮冷却,温度稳定性±0.1K)
9. 二维探测器: VANTEC-500(像素尺寸68μm,采集速率5000fps)
10. 单色器系统: Ge(220)四晶单色器(Δλ/λ<5×10⁻⁵,发散度12arcsec)
11. 自动样品台: XYZR自动定位台(定位精度±0.1μm,承载量5kg)
12. 同步辐射联用: 光束线能量调节装置(能量范围5-30keV,通量10¹²ph/s)
13. 中子衍射附件: 波长选择器(λ=1.0-5.0Å,Δλ/λ=0.3%)
14. 微区衍射系统: 毛细管聚焦镜(光斑尺寸50μm,强度增益100×)
15. 高速探测器: HyPix-3000(读取速度0.5ms/frame,动态范围10⁵)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与粉末衍射检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。