基本电学参数:
1.纯金属材料:铜、铝及其合金,检测重点为高电导率保持率、杂质含量影响及微观结构变化。
2.半导体材料:硅、锗单晶及化合物半导体,侧重载流子浓度、电阻率分布及温度系数测试。
3.高分子导电材料:导电塑料、橡胶,检测核心包括表面电阻、耐老化性能及添加剂影响。
4.陶瓷材料:氧化锌、钛酸钡等功能陶瓷,重点测试体积电阻率、绝缘强度及热稳定性。
5.复合材料:碳纤维增强塑料、金属基复合材料,检测各向异性导电性、界面电阻及机械应力响应。
6.薄膜与涂层:ITO薄膜、金属涂层,核心检测面电阻、厚度均匀性及附着强度影响。
7.电缆与电线:电力电缆、通信线缆,检测整体导电性、绝缘电阻及使用寿命评估。
8.电子元件:电阻器、电容器、连接器,侧重接触电阻、频率响应及环境耐受性。
9.PCB板材料:覆铜板及导电轨迹,检测重点为电导率分布、热膨胀系数影响及信号完整性。
10.电池材料:电极材料、电解质,测试离子导电性、界面电阻及循环稳定性。
国际标准:
1.四探针电阻测试仪:KEITHLEY2450型(测量范围0.1μΩ-100MΩ,精度±0.1%)
2.LCR表:AGILENTE4980A型(频率范围20Hz-2MHz,精度±0.05%)
3.高阻计:KEITHLEY6517B型(电阻范围10Ω-200TΩ,精度±0.2%)
4.表面电阻测试仪:HIOKISM7110型(表面电阻范围10^3-10^{14}Ω,精度±1%)
5.阻抗分析仪:KEYSIGHTE4990A型(频率范围1MHz-3GHz,精度±0.1dB)
6.温度控制测试系统:ESPECPCT-100型(温度范围-70°C至200°C,稳定性±0.5°C)
7.环境试验箱:WEISSWK3-720型(湿度范围10-98%RH,温度范围-40°C至150°C)
8.薄膜电阻测试仪:MJianCeUBISHILORESTA-GP型(测量范围10^{-2}-10^8Ω/sq,精度±0.5%)
9.探针台系统:CASCADESUMMIT12000型(XYZ定位精度±1μm,最大样品尺寸200mm)
10.直流电源表:KEITHLEY2400型(电流范围1pA-10A,电压范围200mV-1100V)
11.高频信号发生器:ROHDE&SCHWARZSMB100A型(频率范围9kHz-6GHz,输出电平-140dBm至+30dBm)
12.老化试验设备:Q-LABQUV型(紫外线辐射强度0.7W/m²,温度范围40°C-80°C)
13.盐雾腐蚀箱:ASCOTTS450型(盐雾沉降率1-2ml/80cm²/h,温度范围15°C-50°C)
14.机械应力测试仪:INSTRON3369型(载荷范围0.02kN-50kN,位移精度±0.5%)
15.射线辐射仪:GAMMAMETRICSDC-8型(辐射剂量率0.1-100Gy/h,精度
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与导电性检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。