检测项目

电学性能检测：

• 方阻：[参数]Ω/sq（参照ASTMF390）
• 电阻率：[参数]μΩ·cm（如：电阻率≤10μΩ·cm）
• 电阻温度系数：[参数]ppm/°C

• 透光率：[参数]%（如：透光率≥85%）
• 雾度：[参数]%（参照ASTMD1003）
• 反射率：[参数]%

• 附着力：[参数]级（参照ISO2409）
• 铅笔硬度：[参数]H（如：铅笔硬度≥4H）
• 柔韧性：[参数]次弯折无裂纹

• 膜厚：[参数]nm（如：厚度偏差±5%）
• 厚度分布：[参数]%均匀度

• 粗糙度：[参数]Ra（如：Ra≤0.1μm）
• 缺陷密度：[参数]个/mm²

• 耐酸碱性：[参数]小时无腐蚀
• 耐溶剂性：[参数]级（参照ASTMD1308）

• 热膨胀系数：[参数]ppm/K
• 热循环稳定性：[参数]次循环（如：300次无失效）

• 剥离强度：[参数]N/cm（如：剥离力≥5N/cm）
• 剪切强度：[参数]MPa

• 湿热老化：[参数]小时（如：85℃/85%RH1000h）
• 盐雾测试：[参数]小时无失效（参照ISO9227）

• 腐蚀电位：[参数]mV
• 阻抗谱：[参数]Ω·cm²

检测范围

1.ITO导电薄膜：应用于透明电极，检测重点为方阻均匀性和光学透光率一致性。

2.金属网格薄膜：用于触控屏，检测重点为网格线宽精度和电阻稳定性。

3.碳纳米管薄膜：柔性电子器件材料，检测重点为电导率均一性和机械弯曲耐久性。

4.石墨烯导电薄膜：高迁移率应用，检测重点为缺陷密度和表面平整度。

5.PEDOT:PSS有机薄膜：有机电子领域，检测重点为化学稳定性和附着力等级。

6.银纳米线薄膜：低成本透明导体，检测重点为线密度分布和透光率均匀性。

7.铜薄膜：集成电路互连，检测重点为电阻抗氧化性和厚度偏差。

8.金薄膜：微电子封装，检测重点为纯度分析和电镀质量一致性。

9.铝反射导电膜：太阳能反射层，检测重点为反射率稳定性和环境耐候性。

10.复合多层导电膜：多功能器件，检测重点为层间粘附强度和综合电光性能。

检测方法

国际标准：

• ASTMF390薄膜表面电阻测试标准方法
• ISO14708光学薄膜透光率测量方法
• ASTMD3359附着力胶带测试方法
• ISO9227盐雾腐蚀试验方法

• GB/T1410固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
• GB/T15596塑料透光率和雾度试验方法
• GB/T9286色漆和清漆划格法附着力试验
• GB/T2423电工电子产品环境试验方法

检测设备

1.四探针电阻测试仪：RTS-9型（测量范围0.001Ω-1000Ω）

2.紫外可见分光光度计：UV-3600型（波长范围190-1100nm）

3.显微硬度计：MHV-1000型（载荷范围10-1000g）

4.表面粗糙度仪：SJ-410型（分辨率0.001μm）

5.膜厚测量仪：FT-200型（精度±1nm）

6.划格法附着力测试仪：AD-101型（刀距1-2mm）

7.盐雾试验箱：SST-120型（温度范围15-50℃）

8.湿热老化箱：THS-80型（湿度控制85%RH）

9.热循环试验机：TC-300型（循环次数0-1000次）

10.电化学工作站：CHI660E型（电位范围±10V）

11.原子力显微镜：AFM-5500型（扫描范围100μm）

12.弯曲疲劳测试机：BFT-50型（弯折半径1-20mm）

13.光谱椭偏仪：SE-800型（角度范围45-90°）

14.剥离强度测试仪：PT-100型（力值范围0-100N）

15.X射线衍射仪：XRD-7000型（2θ角度

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与导电薄膜检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。