欢迎访问北检(北京)检测技术研究院!全国服务热线:400-635-0567

薄层界面的反射率和透射率检测

  • 原创官网
  • 2025-03-10 15:55:56
  • 关键字:薄层界面的反射率和透射率项目报价,薄层界面的反射率和透射率测试周期,薄层界面的反射率和透射率测试案例
  • 相关:

薄层界面的反射率和透射率检测概述:薄层界面的反射率和透射率检测是评估光学薄膜、半导体涂层等材料性能的关键技术,涉及光谱分析、界面形貌表征及参数化建模。检测要点包括入射角度调控、波长范围选择、偏振态分析以及膜层厚度校准,需结合国际标准与精密仪器实现定量化评估,确保数据可靠性和重复性。


便捷导航:首页 > 服务项目 > 其他检测

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

反射率(入射角:5°–85°,波长范围:200–2500 nm)

透射率(光谱分辨率:0.1 nm,测量重复性误差≤±0.5%)

膜层厚度(精度:±1 nm,检测范围:10–5000 nm)

折射率与消光系数(基于椭偏法,波长覆盖:190–1700 nm)

界面粗糙度(横向分辨率:1 μm,纵向灵敏度:0.1 nm)

检测范围

光学薄膜(增透膜、反射膜、滤光片)

半导体涂层(氮化硅、氧化铟锡、多晶硅)

光伏材料(PERC电池减反射层、钙钛矿薄膜)

显示面板(OLED封装层、偏光膜)

高分子薄膜(PET阻隔涂层、聚酰亚胺柔性基板)

检测方法

ASTM E903-20:材料太阳光吸收比、反射比和透射比的测试方法

ISO 13697:2006:激光损伤阈值测试中的反射率与透射率测量

GB/T 26323-2010:光学功能薄膜反射率测定方法

ISO 14782:2015:塑料透明材料雾度和透光率测试

GB/T 13384-2008:光学薄膜折射率和厚度的椭偏仪测试通则

检测设备

J.A. Woollam M-2000型光谱椭偏仪(波长范围:190–1700 nm,膜厚分辨率:0.1 nm)

PerkinElmer Lambda 1050紫外-可见-近红外分光光度计(波长精度:±0.08 nm,杂散光<0.00007%)

Bruker Dektak XT台阶仪(纵向分辨率:0.1 Å,扫描长度:1–55 mm)

Zygo NewView 9000白光干涉仪(垂直分辨率:0.1 nm,横向视场:0.1–10 mm)

Ocean Insight FX系列光纤光谱仪(积分时间:1 ms–10 s,动态范围:8×10^8:1)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与薄层界面的反射率和透射率检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

服务项目