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概述:类石墨烯检测聚焦于二维碳基材料及其类似物(如单层石墨烯、过渡金属硫化物)的结构与性能表征。核心检测对象包括层数、缺陷密度和电学参数,关键项目涵盖原子力显微镜(AFM)层厚测量(精度±0.1nm)、拉曼光谱ID/IG比(缺陷评估)、四探针电导率测试(范围10⁻⁶至10³ S/m)、热导率分析(激光闪光法,精度±3%)。检测遵循ISO、ASTM及GB标准,确保材料在电子器件、储能领域的应用可靠性。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
结构特性检测:
1. 单层石墨烯: 重点检测层厚均匀性(AFM高度≤0.7nm)及电导率(≥10⁴ S/m),确保电子器件应用可靠性
2. 多层石墨烯: 侧重堆叠结构(XRD晶格参数a=b=2.46ű0.02Å)和热导率(≥2000 W/m·K),用于热管理材料
3. 氧化石墨烯: 核心检测氧含量(XPS O/C比≤0.5)及缺陷密度(拉曼ID/IG≤0.3),优化还原工艺
4. 还原氧化石墨烯: 强调电学恢复(电导率≥100 S/m)和残留杂质(C≥98 wt%),适用电极材料
5. 石墨烯纳米片: 聚焦尺寸分布(SEM直径≤100 nm)及机械强度(杨氏模量≥0.5 TPa),增强复合材料
6. 石墨烯量子点: 检测荧光性能(量子产率≥0.6)及粒径(TEM≤10 nm),用于生物成像
7. 过渡金属硫化物: 如MoS₂,重点层间耦合(拉曼E²g峰位移)及半导体特性(带隙≥1.8 eV)
8. 石墨烯-聚合物复合材料: 侧重界面结合(AFM粘附力≥5 nN)及增强效应(拉伸强度提升≥50%)
9. 石墨烯基电极: 检测比表面积(BET≥500 m²/g)及循环稳定性(容量保持率≥80% after 1000 cycles)
10. 石墨烯传感器: 核心为响应灵敏度(电阻变化ΔR/R≥2%/unit)及选择性(交叉干扰≤5%),用于环境监测
国际标准:
1. 原子力显微镜: Bruker Dimension Icon型(分辨率0.1nm,扫描范围90μm)
2. 拉曼光谱仪: Renishaw inVia Qontor型(激光波长532nm,光谱分辨率1cm⁻¹)
3. 四探针测试仪: Keithley 2450型(电流范围1nA-1A,电压精度±0.1%)
4. 透射电子显微镜: JEOL JEM-2100F型(加速电压200kV,点分辨率0.19nm)
5. 扫描电子显微镜: Hitachi SU8000型(分辨率1.0nm,放大倍数×1,000,000)
6. X射线衍射仪: Bruker D8 Advance型(角度精度±0.0001°,Cu Kα辐射)
7. 激光闪光导热仪: Netzsch LFA 467型(温度范围-120°C至500°C,精度±3%)
8. 纳米压痕仪: Hysitron TI 980型(载荷范围1μN-10mN,位移分辨率0.02nm)
9. 紫外-可见分光光度计: Shimadzu UV-2600型(波长范围190-900nm,带宽1nm)
10. 霍尔效应测试系统: Lake Shore 8400型(磁场范围±1.5T,载流子浓度检测限10¹⁰ cm⁻³)
11. 电化学工作站: CHI 660E型(电流范围±250mA,频率范围10μHz-1MHz)
12. 傅里叶变换红外光谱仪: Thermo Nicolet iS50型(波数范围7800-350cm⁻¹,分辨率0.09cm⁻¹)
13. X射线光电子能谱仪: Thermo K-Alpha型(分析深度≤10nm,能量分辨率0.5eV)
14. 差示扫描量热仪: TA Instruments Q200型(温度范围-180°C至725°C,灵敏度0.2μW)
15. 椭偏仪: J.A. Woollam M-2000型(波长范围245-1700nm,膜厚精度±0.1nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"类石墨烯检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。