检测项目

直径测量：检测范围1-100nm，精度±0.5nm（SEM成像）

长度分布：平均长度50-5000nm，标准差<10%（统计分析法）

表面粗糙度：Ra值0.1-5nm，依据ISO 4287（AFM扫描）

元素成分：检测限0.1at%，使用EDS分析（X射线能谱）

晶体结构：晶格常数测定，误差<0.01nm（XRD衍射）

电导率：测量范围10^{-6}至10^4 S/cm，精度±2%（四探针法）

光学吸收：波长200-800nm，分辨率1nm（UV-Vis光谱）

力学性能：杨氏模量测定，范围1-1000GPa（纳米压痕）

热稳定性：热重分析温度25-1000°C，精度±0.5°C（TGA）

表面化学：XPS分析结合能精度0.1eV（光电子能谱）

纵横比：计算长度/直径比，范围1-1000（图像处理）

纯度评估：杂质含量检测限0.01wt%（质谱法）

电荷载流子密度：范围10^{15}-10^{20} cm^{-3}（霍尔效应测试）

缺陷密度：单位长度缺陷数，误差<5%（TEM观察）

生物兼容性：细胞毒性测试，依据ISO 10993-5（体外分析）

检测范围

硅纳米线：半导体器件及传感器应用

氧化锌纳米线：光电子和紫外探测器件

金纳米线：导电电极和纳米电路

银纳米线：透明导电薄膜和柔性显示

铜纳米线：电子互连和热管理材料

碳纳米管：单壁/多壁结构用于复合材料

聚合物纳米线：生物传感器和药物递送系统

氮化镓纳米线：LED和功率电子器件

二氧化钛纳米线：光催化和太阳能电池

铁氧体纳米线：磁性存储和传感器

量子点纳米线：量子计算和发光器件

硫化镉纳米线：光电探测和催化反应

镍纳米线：磁性纳米复合物

氧化锡纳米线：气体传感器件

铂纳米线：燃料电池催化剂

检测方法

扫描电子显微镜法：依据ISO 16700进行形貌和尺寸分析

透射电子显微镜法：依据ASTM E766测定晶体结构和缺陷

原子力显微镜法：依据GB/T 31227-2014测量表面形貌和粗糙度

X射线衍射法：依据GB/T 23413-2009分析晶体相和晶格参数

能量色散X射线光谱法：依据ISO 22309进行元素成分定量

拉曼光谱法：依据ASTM E1840表征材料成分和应力分布

四探针电阻测试法：依据GB/T 1410-2006测量电导率和电阻率

紫外-可见光谱法：依据ISO 14887测定光学吸收和带隙

纳米压痕法：依据ISO 14577测定力学性能和弹性模量

热重分析法：依据GB/T 19466-2004评估热稳定性和分解温度

X射线光电子能谱法：依据ISO 15472分析表面化学和键合状态

霍尔效应测试法：依据GB/T 35001-2018测量电荷载流子密度

动态光散射法：依据ISO 22412测定尺寸分布和分散稳定性

荧光光谱法：依据ASTM E578分析光学特性和量子效率

电化学阻抗谱法：依据GB/T 33345-2016评估界面性能

检测设备

场发射扫描电子显微镜：型号FEI Nova NanoSEM 450，分辨率0.8nm，用于形貌成像

高分辨率透射电子显微镜：型号JEOL JEM-ARM300F，点分辨率0.08nm，用于晶体结构分析

原子力显微镜：型号Bruker Dimension Icon，扫描范围90μm，用于表面粗糙度测量

X射线衍射仪：型号PANalytical Empyrean，角度精度0.0001°，用于相分析

能量色散光谱仪：型号Oxford Instruments X-MaxN，检测限0.1wt%，用于元素定量

拉曼光谱仪：型号Renishaw inVia，光谱范围200-4000cm^{-1}，用于成分表征

四探针测试系统：型号Keithley 4200-SCS，电流范围1pA-1A，用于电导率测量

紫外-可见分光光度计：型号PerkinElmer Lambda 950，波长范围175-3300nm，用于光学吸收测试

纳米压痕仪：型号Hysitron TI 980，负载分辨率50nN，用于力学性能评估

热重分析仪：型号TA Instruments Q500，温度精度±0.1°C，用于热稳定性分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与纳米线检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。