晶体结构分析:晶胞参数(a,b,c,α,β,γ)、空间群归属、原子占位率(误差±0.0001 Å)
点缺陷表征:空位浓度(10-4-10-6量级)、间隙原子分布(精度±0.01%)
位错密度测定:线密度(106-1012 cm/cm3)、柏氏矢量分析(误差±0.05 nm)
残余应力检测:三维应力张量(检测下限50 MPa)、应力梯度(0.1 MPa/μm)
织构取向分析:极图强度(MRD值0.1-20)、ODF截面重构(角度分辨率0.5°)
金属材料:铝合金(AA6061/7075)、钛合金(TC4/TA15)、高温合金(IN718/DD6)
无机非金属材料:氧化锆陶瓷(3Y-TZP)、碳化硅晶须(直径0.1-1μm)、氮化镓单晶
高分子材料:聚乙烯(HDPE/UHMWPE)球晶、聚丙烯β晶型、液晶高分子(Vectran®)
纳米材料:量子点(CdSe/ZnS核壳结构)、金属有机框架(MOF-5/HKUST-1)
地质矿物:方解石双晶纹、橄榄石位错滑移系、锆石U-Pb定年晶体损伤
X射线衍射法:ASTM E2627(残余应力)、ISO 20203(铝电解槽阴极材料)、GB/T 8362(钢中残余奥氏体)
电子背散射衍射:ISO 24173(取向分析)、GB/T 38888(汽车钢板织构)
中子衍射法:ASTM E2861(大体积构件应力)、ISO 21484(核燃料棒检测)
同步辐射技术:ISO/TS 21383(纳米材料结构)、GB/T 40148(高温原位分析)
透射电子显微术:ISO 25498(微束分析)、GB/T 17507(薄膜样品制备)
X射线衍射仪:PANalytical Empyrean(2θ范围0-168°,Cu靶Kα辐射,探测器PIXcel3D)
场发射扫描电镜:Thermo Scientific Apreo 2(分辨率0.8 nm@1 kV,EBSD探头Symmetry S2)
透射电子显微镜:JEOL JEM-ARM300F(球差校正,点分辨率0.07 nm,STEM-HAADF)
中子衍射仪:STFC ISIS TS2(波长范围0.1-20 Å,飞行时间法测量)
同步辐射光束线:上海光源BL14B1(能量范围5-20 keV,光斑尺寸0.1×0.1 mm²)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与结构晶体学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。