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概述:线路板显微缺陷分析聚焦微米级结构异常检测,通过金相学手段解析基材层压、镀铜层、焊点及表面处理缺陷。核心检测对象涵盖通孔完整性(孔壁撕裂、镀层空洞)、导体形变(开路/短路)、层间结合力(分层、爆板)及表面污染(离子残留、氧化)。关键项目包括微观裂纹扩展路径测量、镀层厚度分布分析(±0.1μm精度)、界面结合状态评级(依据IPC-A-600标准),为高可靠性电子组件提供失效机理判定依据。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
微观结构缺陷:
1.刚性PCB:FR-4/CEM-3基材单双面板,重点检测层压空洞与Z向膨胀系数匹配性
2.高密度互连板:3阶以上HDI板,侧重激光微孔锥度(70-85°)与填孔空洞率(≤5%)
3.柔性电路板:聚酰亚胺基材FPC,检测弯折区铜箔疲劳裂纹与覆盖膜剥离强度(≥0.8N/mm)
4.金属基板:铝基/铜基散热板,分析绝缘层热阻(≤0.5℃·cm²/W)与金属结合界面空隙率
5.高频电路板:PTFE/陶瓷填充基材,关注介质层厚度公差(±3μm)及铜箔粗糙度(Rz≤1.5μm)
6.封装载板:FC-BGA/CSP基板,检测微凸点共面性(≤5μm)与硅穿孔(TSV)侧壁垂直度(89±1°)
7.厚铜电源板:3oz以上铜厚板,聚焦内层铜厚均匀性(公差±10%)与热应力分层
8.刚挠结合板:软硬结合区,监控结合部形变位移(≤0.1mm)与应力缓冲区裂纹
9.特种基板:陶瓷/AlN基板,检测金属化层附着力(≥15MPa)与烧结气孔分布
10.光电基板:光纤嵌入板,侧重波导对准精度(±1μm)与耦合区污染度
国际标准:
1.金相显微镜:奥林巴斯BX53M(5-1000×,微分干涉对比DIC)
2.扫描电镜:蔡司EVOMA15(分辨率3nm,EDS元素分析)
3.离子研磨仪:徕卡EMTXP(截面精度±0.1μm,最小处理区域50μm)
4.X射线断层扫描:尼康XTH225(体素尺寸0.5μm,最大样品Φ200mm)
5.激光共聚焦显微镜:基恩士VK-X3000(Z轴分辨率1nm,3D表面重建)
6.显微硬度计:斯特尔HM2000(载荷0.01-2kgf,压痕自动测量)
7.红外热像仪:菲力尔A850sc(热灵敏度15mK,空间分辨率1.1mrad)
8.超声扫描显微镜:声学科技PVATePlaSAM300(最高频率230MHz,分辨率10μm)
9.聚焦离子束:赛默飞HeliosG4UX(束流1pA-65nA,定位精度±5nm)
10.热机械分析仪:耐驰TMA402F3(膨胀系数分辨率0.01μm/m·K)
11.离子色谱仪:万通883BasicICPlus(检测限0.1ppb)
12.X射线荧光仪:牛津X-MET8000(元素范围Na-U,厚度检测下限0.005μm)
13.3D轮廓仪:布鲁克ContourGT-K(垂直分辨率0.01nm,扫描速度300μm/s)
14.红外光谱仪:珀金埃尔默Spotlight400(空间分辨率1.56μm,光谱范围7800-350cm⁻¹)
15.热重分析仪:TA仪器DiscoveryTGA550(温度精度±0.1℃,称重分辨率0.1μg)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"线路板显微缺陷分析"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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