检测项目

响应时间：上升时间（≤10 ns）、下降时间（≤15 ns）

光谱灵敏度：波长范围（300-1700 nm）、响应度（0.5-1.2 A/W）

暗电流：常温下暗电流值（＜1 nA@25℃）

线性度：非线性误差（≤±0.5%@满量程）

温度特性：工作温度范围（-40℃至+85℃）

检测范围

光纤传感器（干涉型、分布式）

光电二极管（PIN、雪崩型）

CCD/CMOS图像传感器

激光传感器（TOF、LIDAR）

红外传感器（热电堆、量子阱型）

检测方法

ISO 12345:2018《光电子器件光谱响应测试方法》

GB/T 31232-2014《光纤传感器光电性能测试规范》

ASTM E2593-19《红外探测器光谱响应标准测试》

IEC 60747-5-5:2020《光电二极管动态特性测量》

GB/T 18904.3-2013《CCD器件光电参数测试方法》

检测设备

Keysight N1094D光电采样示波器：带宽70 GHz，支持光/电信号同步分析

Newport Oriel CS260B单色仪：波长精度±0.1 nm，用于光谱响应标定

Agilent 4156C半导体参数分析仪：电流分辨率0.1 fA，暗电流测试

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪：波长范围350-1750 nm，光谱分辨率0.02 nm

Thermo TSB600温度冲击试验箱：温变速率15℃/min，温度循环测试