检测项目

输入/输出电压特性：阈值电压（0.8-2.4V）、高/低电平范围（0-5V）

传输延迟时间：上升时间（1-5ns）、下降时间（1-5ns）、传播延迟（5-15ns）

静态/动态功耗：静态电流（μA级）、动态电流（mA级，@100MHz）

噪声容限：直流噪声容限（≥0.4V）、交流噪声容限（≥0.3V）

温度稳定性：工作温度范围（-55℃~+125℃）、温漂系数（≤0.1%/℃）

检测范围

CMOS系列：74HC、CD4000等低功耗数字电路

TTL系列：74LS、74F等高速逻辑电路

ECL系列：MC10H、100E等超高速差分电路

BiCMOS系列：74ABT、74BCT等混合工艺电路

GaAs基门电路：用于射频与微波集成电路

检测方法

ASTM F1241-2015：门电路传输延迟时间测试方法

ISO 11452-8:2015：集成电路温度循环与湿热试验规范

GB/T 4587-1994：半导体集成电路总规范（静态参数测试）

GB/T 17574-2021：半导体器件额定值和特性（动态参数测试）

IEC 60749-25:2020：半导体器件机械与气候试验方法

检测设备

Keysight B1500A半导体参数分析仪：支持0.1fA~10A电流精度，±0.5%电压测量误差

Tektronix DPO73304S数字示波器：33GHz带宽，200ps级时间分辨率

ThermoStream T-2600温度冲击系统：-65℃~+200℃温变率≥30℃/min

Chroma 33600系列电源/负载系统：支持±0.02%电压精度，100ns级响应速度

ESD-20静电测试仪：满足IEC 61000-4-2标准，接触放电±30kV

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与集成门电路检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。