输入/输出特性检测:输入电压范围(0-5V)、输出电流(±20mA)、高低电平阈值(VIH/VIL)
传输延迟时间检测:上升时间(tr≤3ns)、下降时间(tf≤3ns)、传播延迟(tpd≤10ns)
功耗测试:静态功耗(≤1μA)、动态功耗(@10MHz,≤50mW)
噪声容限检测:直流噪声容限(≥0.4V)、交流噪声容限(≥200mV)
温度稳定性测试:工作温度范围(-40℃~125℃)、参数漂移率(≤5%/100℃)
CMOS复合门电路(如74HC系列)
TTL复合门电路(如74LS系列)
ECL高速门电路(如MC10EP系列)
BiCMOS混合工艺门电路
砷化镓(GaAs)高频门电路
输入/输出特性:依据GB/T 17574-2021《半导体器件 集成电路》第21部分
传输延迟:ASTM F1241-2018(脉冲响应法)
功耗测试:ISO 16750-2:2023(恒压源负载法)
噪声容限:IEC 60749-27:2020(注入噪声法)
温度循环:GB/T 2423.22-2012(高低温交变试验箱法)
数字示波器:Tektronix DPO4034(带宽350MHz,采样率5GS/s)
半导体参数分析仪:Keysight B1505A(电流分辨率0.1fA)
高低温试验箱:ESPEC TSE-11-A(温控精度±0.5℃)
逻辑分析仪:Rigol MSO8204(16通道,1GHz带宽)
噪声注入仪:NF Corporation WF1974(频率范围10Hz-10MHz)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与复合门电路检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。