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红外线光栅检测

  • 原创官网
  • 2025-03-12 16:01:00
  • 关键字:红外线光栅测试标准,红外线光栅项目报价,红外线光栅测试方法
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红外线光栅检测概述:红外线光栅检测是通过非接触式光学手段对材料或器件的红外波段光栅性能进行定量分析的技术,广泛应用于光学元件、半导体及精密仪器领域。检测要点包括波长范围、透过率、衍射效率、光栅常数误差及表面平整度,需依据ASTM、ISO等标准确保数据可靠性和可追溯性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

波长范围检测:2-25μm波段覆盖性验证

透过率测试:目标波长下透过率≥85%(视材料类型调整阈值)

衍射效率分析:一级衍射效率误差≤±3%

光栅常数校准:周期误差控制在±0.05μm内

表面平整度检测:Ra≤0.02μm(激光干涉法)

检测范围

光学玻璃基红外光栅

聚合物薄膜衍射光栅

金属镀膜红外反射光栅

红外滤光片阵列组件

半导体晶圆集成光栅结构

检测方法

ASTM E423-71:非金属材料红外发射率标准测试

ISO 9211-4:2012:光学涂层光谱性能评估

GB/T 18311.3-2001:光纤设备用光栅机械耐久性试验

ISO 10110-8:2020:光学元件衍射特性表征

GB/T 26189-2010:红外光谱分析通则

检测设备

傅里叶变换红外光谱仪(PerkinElmer Spectrum Two):波长分辨率0.5cm⁻¹,支持2-28μm波段扫描

高精度分光光度计(Shimadzu UV-3600 Plus):覆盖0.2-25μm,光度重复性±0.0003Abs

激光干涉仪(Zygo Mark III):垂直分辨率0.1nm,检测面积Φ150mm

红外椭偏仪(J.A. Woollam M-2000):入射角范围20-90°,膜厚测量精度±0.1nm

台阶轮廓仪(Bruker Dektak XT):Z轴分辨率0.1Å,扫描长度50mm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与红外线光栅检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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