六氟锗酸铵含量测定:纯度≥99.5%,检测误差±0.3%
杂质元素分析:Al≤50ppm、Fe≤30ppm、Cu≤10ppm
水分含量检测:卡尔费休法,要求≤0.2%(w/w)
热稳定性测试:200℃恒温2小时失重率≤1.5%
溶液pH值测定:1%水溶液pH范围1.8-2.5
高纯度电子级六氟锗酸铵晶体
光学镀膜用前驱体材料
半导体掺杂工艺原料
催化剂合成中间体
特种玻璃添加剂
ICP-OES法(ASTM E1479):测定金属杂质含量
X射线衍射法(GB/T 223.5-2008):晶体结构验证
热重分析法(ISO 11358):热稳定性评估
离子色谱法(GB/T 31197-2014):阴离子杂质检测
激光粒度分析(ISO 13320):颗粒分布测定
Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES:多元素同步检测,检出限0.01ppm
Bruker D8 ADVANCE XRD:晶体结构分析,角度精度±0.0001°
Mettler Toledo TGA/DSC 3+:热重-差热联用,温度范围25-1600℃
Metrohm 930 Compact IC Flex:阴离子检测系统,分辨率0.1mg/L
Malvern Mastersizer 3000:粒度分析,测量范围0.01-3500μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"六氟锗酸铵检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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