检测项目
纯度检测：主成分含量≥99.5%（SiI4）
水分含量：≤50ppm（卡尔费休法）
金属杂质：Fe≤5ppm、Al≤3ppm、Ni≤2ppm（ICP-MS）
粒径分布：D50=1-5μm（激光粒度分析）
热稳定性：TG-DSC检测（分解温度≥200℃）
检测范围
电子级碘化硅（半导体制造用）
医药中间体（有机合成原料）
光学镀膜材料（红外透镜涂层）
化学气相沉积（CVD）前驱体
纳米复合材料添加剂
检测方法
纯度测定：GB/T 23942-2009《化学试剂 电感耦合等离子体质谱法》
水分检测：ISO 760-1978《卡尔费休法测定水分》
金属分析：ASTM E1479-16《ICP-MS测定痕量元素》
粒度测试：GB/T 19077-2016《激光衍射法粒度分析》
热分析：ISO 11358-2021《塑料 聚合物TG-DSC检测》
检测设备
Agilent 7900 ICP-MS：痕量金属元素分析（检出限0.1ppb）
METTLER Toledo C20卡尔费休水分仪：精度±3ppm
Malvern Mastersizer 3000：0.01-3500μm粒径测量
NETZSCH STA 449 F5：同步热分析（-150℃~2000℃）
PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光谱仪：特定元素定量分析