表面形貌分析(粗糙度Ra 0.1-10μm,波纹度Wz 1-50μm)
残余应力分布检测(应力范围±2000MPa,深度分辨率0.1μm)
热膨胀系数校正(温度范围-196℃至1200℃,精度±0.1×10⁻⁶/℃)
晶界偏析定量分析(元素浓度检测限0.01at%)
界面结合强度测试(载荷范围0.1-50kN,位移分辨率0.1μm)
金属材料:钛合金、铝合金、高温合金等
复合材料:碳纤维增强聚合物、陶瓷基复合材料
高分子材料:工程塑料、弹性体薄膜
陶瓷材料:氧化锆、氮化硅结构陶瓷
电子元器件:芯片封装材料、焊点界面层
ASTM E837-20 残余应力测定(X射线衍射法)
ISO 4287:2023 表面粗糙度轮廓分析法
GB/T 4339-2020 金属材料热膨胀系数测定
ASTM E112-13 晶粒度定量金相分析
GB/T 10424-2022 界面结合强度剪切试验法
Bruker D8 Discover XRD:X射线衍射残余应力分析,角度分辨率0.001°
Taylor Hobson PGI 3D:三维表面轮廓仪,垂直分辨率0.1nm
Netzsch DIL 402 C:热膨胀仪,控温速率0.01-50K/min
FEI Scios 2:聚焦离子束-扫描电镜联用系统,成像分辨率1.0nm
Instron 5985:万能材料试验机,载荷精度±0.5%读数
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与边界效应校正检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。