包层厚度测量:检测范围5-200μm,精度±0.1μm
折射率分布分析:波长范围850-1550nm,分辨率±0.0005
涂层附着力测试:剥离力范围0.1-10N,速度1mm/min
温度循环试验:-40℃至+85℃循环,单次循环时间120min
抗拉强度测试:拉伸速率5mm/min,最大载荷50N
氢老化试验:温度85℃±2℃,湿度85%RH,持续时间1000h
单模通信光纤(G.652.D/G.657.A2)
多模梯度光纤(OM3/OM4/OM5)
抗辐射特种光纤(空间应用级)
光纤预制棒(芯棒/外包层)
光纤传感元件(分布式/点式)
ASTM D792:密度测定法(浮力法)
ISO/IEC 60793-1-40:光纤传输特性测试
GB/T 15972.20:光纤机械性能试验方法
IEC 61300-2-48:光纤组件温度循环试验
TIA-455-78-B:光纤涂层几何参数测量
GB/T 18311.2:光纤器件环境试验规程
Olympus OLS5000激光共聚焦显微镜:三维表面形貌分析,Z轴分辨率1nm
Agilent 8700光纤折射率分析仪:波长扫描范围600-1700nm
Instron 5944微力试验机:载荷分辨率0.001N,位移精度±0.1μm
Espec PL-3J温度冲击箱:转换时间<10s,温变速率15℃/min
Yokogawa AQ6370D光谱分析仪:波长精度±0.02nm,动态范围70dB
Keysight N7788B偏振分析系统:PMD测量范围0.01-50ps
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与聚硅氧烷包层光纤检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。