检测项目

包层厚度测量：检测范围5-200μm，精度±0.1μm

折射率分布分析：波长范围850-1550nm，分辨率±0.0005

涂层附着力测试：剥离力范围0.1-10N，速度1mm/min

温度循环试验：-40℃至+85℃循环，单次循环时间120min

抗拉强度测试：拉伸速率5mm/min，最大载荷50N

氢老化试验：温度85℃±2℃，湿度85%RH，持续时间1000h

检测范围

单模通信光纤（G.652.D/G.657.A2）

多模梯度光纤（OM3/OM4/OM5）

抗辐射特种光纤（空间应用级）

光纤预制棒（芯棒/外包层）

光纤传感元件（分布式/点式）

检测方法

ASTM D792：密度测定法（浮力法）

ISO/IEC 60793-1-40：光纤传输特性测试

GB/T 15972.20：光纤机械性能试验方法

IEC 61300-2-48：光纤组件温度循环试验

TIA-455-78-B：光纤涂层几何参数测量

GB/T 18311.2：光纤器件环境试验规程

检测设备

Olympus OLS5000激光共聚焦显微镜：三维表面形貌分析，Z轴分辨率1nm

Agilent 8700光纤折射率分析仪：波长扫描范围600-1700nm

Instron 5944微力试验机：载荷分辨率0.001N，位移精度±0.1μm

Espec PL-3J温度冲击箱：转换时间＜10s，温变速率15℃/min

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪：波长精度±0.02nm，动态范围70dB

Keysight N7788B偏振分析系统：PMD测量范围0.01-50ps