光谱纯石英检测
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2025-03-13 11:00:23
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光谱纯石英检测概述：光谱纯石英检测是确保材料高纯度与性能的关键技术，重点分析SiO₂含量、杂质元素、晶体结构及热学特性等核心指标。本文系统阐述检测项目、适用材料范围、国际/国家标准方法及精密仪器配置，为半导体、光学器件等高端领域提供质量控制依据。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
☌ 询价
检测项目
二氧化硅（SiO₂）纯度测定：检测范围≥99.95%，测量精度±0.005%
痕量元素分析：Fe、Al、Ca、K、Na等金属杂质，检测限≤1ppm
晶体结构表征：α-石英含量≥98%，结晶度误差±0.5%
热膨胀系数测试：20-1000℃范围，CTE≤5.5×10⁻⁷/℃
光学性能检测：紫外透过率（200nm）≥85%，折射率1.458±0.001
检测范围
石英玻璃制品：半导体用石英管、石英舟、石英钟罩
半导体材料：硅片生长用石英坩埚、光掩膜基板
光学元件：紫外透镜、棱镜、光学窗口片
高纯石英砂：光伏级、光纤级原料石英砂
实验室器皿：比色皿、石英烧杯、ICP-MS进样系统
检测方法
X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM E1621-13，GB/T 21114-2019
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：ISO 11885:2007，GB/T 3284-2015
X射线衍射分析（XRD）：ISO 20203:2005，GB/T 23413-2022
热膨胀系数测定：ASTM E228-17，GB/T 16535-2020
紫外-可见分光光度法：ISO 21501-4:2018，JJG 682-2017
检测设备
| Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光谱仪 | 元素定量分析，检测限达0.1ppm |
| Bruker D8 ADVANCE XRD衍射仪 | 晶体结构分析，角度分辨率0.0001° |
| PerkinElmer Avio 500 ICP-OES | 多元素同步检测，线性范围达6个数量级 |
| NETZSCH DIL 402 Expedis热膨胀仪 | -160℃至1600℃热力学性能测试 |
| Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计 | 190-2500nm波段透过率测量 |
北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
以上是与光谱纯石英检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。