层间距测定(0.3-10Å范围)
晶格常数测量(±0.001nm精度)
层间取向角分析(0.01°分辨率)
缺陷密度检测(≥10^3/cm²灵敏度)
热稳定性测试(-196℃~1500℃温控范围)
二维材料:石墨烯、二硫化钼(MoS₂)
层状氧化物:锂离子电池正极材料(如LiCoO₂)
钙钛矿材料:MAPbI₃光伏薄膜
层状陶瓷:氮化硼(h-BN)
高分子复合材料:纳米粘土增强材料
X射线衍射法:ASTM E975、GB/T 23413
扫描电子显微镜:ISO 16700、GB/T 27788
透射电子显微镜:ISO 25498、GB/T 23414
拉曼光谱法:ISO 20310、GB/T 36065
热重-差示扫描量热法:ASTM E1269、GB/T 19466.1
X射线衍射仪(Rigaku SmartLab):配备高分辨率测角器,最小步进0.0001°
场发射扫描电镜(JEOL JSM-IT800):0.8nm@15kV分辨率,配备EDS/EBSD联用系统
球差校正透射电镜(FEI Talos F200X):0.12nm点分辨率,STEM模式能量分辨率<136eV
共聚焦拉曼光谱仪(Renishaw inVia):532/785nm双激光源,0.35cm⁻¹光谱分辨率
同步热分析仪(TA Instruments SDT 650):±0.1μg质量灵敏度,±0.02μW热流精度
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与晶体层状结构检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。