检测项目

层间距测定（0.3-10Å范围）

晶格常数测量（±0.001nm精度）

层间取向角分析（0.01°分辨率）

缺陷密度检测（≥10^3/cm²灵敏度）

热稳定性测试（-196℃~1500℃温控范围）

检测范围

二维材料：石墨烯、二硫化钼（MoS₂）

层状氧化物：锂离子电池正极材料（如LiCoO₂）

钙钛矿材料：MAPbI₃光伏薄膜

层状陶瓷：氮化硼（h-BN）

高分子复合材料：纳米粘土增强材料

检测方法

X射线衍射法：ASTM E975、GB/T 23413

扫描电子显微镜：ISO 16700、GB/T 27788

透射电子显微镜：ISO 25498、GB/T 23414

拉曼光谱法：ISO 20310、GB/T 36065

热重-差示扫描量热法：ASTM E1269、GB/T 19466.1

检测设备

X射线衍射仪（Rigaku SmartLab）：配备高分辨率测角器，最小步进0.0001°

场发射扫描电镜（JEOL JSM-IT800）：0.8nm@15kV分辨率，配备EDS/EBSD联用系统

球差校正透射电镜（FEI Talos F200X）：0.12nm点分辨率，STEM模式能量分辨率<136eV

共聚焦拉曼光谱仪（Renishaw inVia）：532/785nm双激光源，0.35cm⁻¹光谱分辨率

同步热分析仪（TA Instruments SDT 650）：±0.1μg质量灵敏度，±0.02μW热流精度