检测项目
介电强度：击穿电压（0.5-10kV）、耐压时间（60s）
电容值偏差：标称值±2%（1kHz/25℃）
损耗角正切（tanδ）：≤0.002（1MHz）
绝缘电阻：≥10^12Ω（100V DC）
温度特性：-55℃~+125℃电容变化率≤±15%
检测范围
陶瓷介质电容器（X7R、NPO、Y5V）
聚合物薄膜电容器（PET、PP、PPS）
云母电容器（天然/合成云母）
玻璃釉电容器（高温烧结型）
氧化铝基片式电容器（DC-Link应用）
检测方法
介电强度测试：ASTM D149、GB/T 1408.1
电容测量：IEC 60384-1、GB/T 6346（1kHz±10%）
损耗角正切测试：IEC 61048、GB/T 2693（自动平衡电桥法）
绝缘电阻测试：IEC 60093、GB/T 1410（500V DC极化1min）
温度循环测试：JEDEC JESD22-A104、GB/T 2423.22（10次循环）
检测设备
高压绝缘测试仪：HVC-30（0-15kV/5mA，精度±1%）
精密LCR表：Keysight E4980A（20Hz-2MHz，基本精度0.05%）
热冲击试验箱：ESPEC TSE-11-A（-70℃~+180℃，转换时间＜5s）
介质损耗测试系统：GW Instek LCR-821（100Hz-100kHz，D值分辨率0.0001）
高温老化箱：Thermotron SM-32（+200℃恒温，均匀度±1℃）