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薄介质电容器检测

  • 原创官网
  • 2025-03-14 15:12:30
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薄介质电容器检测概述:薄介质电容器检测是评估其电气性能与可靠性的关键环节,涉及介电强度、电容稳定性、损耗特性等核心参数。本文基于国际标准(ASTM、IEC)及国家标准(GB/T),系统阐述检测项目、材料范围、方法规范及设备选型,为生产质量控制与失效分析提供技术依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

介电强度:击穿电压(0.5-10kV)、耐压时间(60s)

电容值偏差:标称值±2%(1kHz/25℃)

损耗角正切(tanδ):≤0.002(1MHz)

绝缘电阻:≥10^12Ω(100V DC)

温度特性:-55℃~+125℃电容变化率≤±15%

检测范围

陶瓷介质电容器(X7R、NPO、Y5V)

聚合物薄膜电容器(PET、PP、PPS)

云母电容器(天然/合成云母)

玻璃釉电容器(高温烧结型)

氧化铝基片式电容器(DC-Link应用)

检测方法

介电强度测试:ASTM D149、GB/T 1408.1

电容测量:IEC 60384-1、GB/T 6346(1kHz±10%)

损耗角正切测试:IEC 61048、GB/T 2693(自动平衡电桥法)

绝缘电阻测试:IEC 60093、GB/T 1410(500V DC极化1min)

温度循环测试:JEDEC JESD22-A104、GB/T 2423.22(10次循环)

检测设备

高压绝缘测试仪:HVC-30(0-15kV/5mA,精度±1%)

精密LCR表:Keysight E4980A(20Hz-2MHz,基本精度0.05%)

热冲击试验箱:ESPEC TSE-11-A(-70℃~+180℃,转换时间<5s)

介质损耗测试系统:GW Instek LCR-821(100Hz-100kHz,D值分辨率0.0001)

高温老化箱:Thermotron SM-32(+200℃恒温,均匀度±1℃)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与薄介质电容器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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