介电强度:击穿电压(0.5-10kV)、耐压时间(60s)
电容值偏差:标称值±2%(1kHz/25℃)
损耗角正切(tanδ):≤0.002(1MHz)
绝缘电阻:≥10^12Ω(100V DC)
温度特性:-55℃~+125℃电容变化率≤±15%
陶瓷介质电容器(X7R、NPO、Y5V)
聚合物薄膜电容器(PET、PP、PPS)
云母电容器(天然/合成云母)
玻璃釉电容器(高温烧结型)
氧化铝基片式电容器(DC-Link应用)
介电强度测试:ASTM D149、GB/T 1408.1
电容测量:IEC 60384-1、GB/T 6346(1kHz±10%)
损耗角正切测试:IEC 61048、GB/T 2693(自动平衡电桥法)
绝缘电阻测试:IEC 60093、GB/T 1410(500V DC极化1min)
温度循环测试:JEDEC JESD22-A104、GB/T 2423.22(10次循环)
高压绝缘测试仪:HVC-30(0-15kV/5mA,精度±1%)
精密LCR表:Keysight E4980A(20Hz-2MHz,基本精度0.05%)
热冲击试验箱:ESPEC TSE-11-A(-70℃~+180℃,转换时间<5s)
介质损耗测试系统:GW Instek LCR-821(100Hz-100kHz,D值分辨率0.0001)
高温老化箱:Thermotron SM-32(+200℃恒温,均匀度±1℃)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与薄介质电容器检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。