检测项目

线宽参数检测：测量半高全宽(FWHM)值，范围0.5-2.0 eV

能量分辨率校准：精度要求±0.05 eV@5.9 keV

温度相关性系数：测定-196℃至1200℃范围内的展宽梯度(±0.02 eV/℃)

同位素位移分析：检测位移量0.001-0.1 nm量级

本底噪声抑制：信噪比≥100:1@1 MeV能区

检测范围

核反应堆燃料元件(UO₂、MOX等)

半导体掺杂硅晶圆(硼、磷掺杂浓度1E14-1E20 atoms/cm³)

高温合金叶片(镍基单晶CMSX-4系列)

光学镀膜材料(Ta₂O₅/SiO₂多层膜系)

高分子辐射改性材料(PTFE、PEEK等)

检测方法

ASTM E1508-22：X射线衍射法测定晶体材料展宽参数

ISO 15472:2020：表面化学分析-XPS能谱展宽校正规程

GB/T 13301-2021：金属材料中子衍射多普勒展宽测试方法

ISO 21238:2023：核设施材料伽马能谱展宽分析导则

GB/T 40794-2021：半导体材料正电子湮没谱检测规范

检测设备

Thermo Scientific K-Alpha+ XPS系统：配备单色化Al Kα源(1486.6 eV)，能量分辨率≤0.4 eV

CANBERRA GEM60P4 HPGe探测器：相对效率60%，FWHM≤1.8 keV@1.33 MeV

Rigaku SmartLab 9kW衍射仪：配备高温附件(最高1600℃)，角度重复性±0.0001°

Ortec ACE-MCA多道分析仪：8192道ADC，死时间＜5 μs

FastComTec MPA-3穆斯堡尔谱仪：速度范围±12 mm/s，温度控制±0.1K

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与多普勒展宽检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。