检测项目

电导率范围测定（单位：%IACS）

电阻率温度系数（测量范围：-50℃~200℃）

直流电阻率（精度：±0.5nΩ·m）

交流阻抗谱分析（频率范围：10Hz~2MHz）

微观结构对导电性影响（晶粒度评级：ASTM E112）

检测范围

电子元器件用铜钴合金（Co含量0.5%~3.0%）

电力传输铜钴复合材料（层状结构厚度≥50μm）

高温超导基体材料（临界温度Tc≥77K）

磁控溅射靶材（纯度≥99.995%）

增材制造专用铜钴粉末（粒径分布D50=15~45μm）

检测方法

ASTM B193-20：标准电阻率测试方法

ISO 11876:2010：金属材料电导率涡流测定法

GB/T 351-2019：金属材料电阻系数测定四探针法

IEC 60468:1974：金属材料电阻率温度系数测定规程

GB/T 36551-2018：增材制造金属粉末导电性能测试规范

检测设备

Keithley 2450源表：直流电阻测量分辨率达0.1nΩ

Sigmatest 2.069涡流电导仪：频率范围10kHz~10MHz

Loresta-GX MCP-T700四探针测试系统：支持薄膜材料测试

Netzsch DIL402C热膨胀仪：同步测定电阻温度特性

FEI Nova NanoSEM450场发射电镜：微观结构与导电性关联分析