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sem扫描电镜检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:16:52
  • 关键字:北检研究院,sem扫描电镜检测

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概述:扫描电子显微镜(SEM)是一种高分辨率显微分析技术,广泛应用于材料表面形貌、成分及微观结构表征。其核心检测参数包括加速电压、放大倍数、工作距离及探测器类型。本文系统阐述SEM的标准化检测流程、适用材料范围及国际/国内标准规范,为科研与工业检测提供技术参考。

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

表面形貌分析:放大倍数100x-1,000,000x,分辨率≤1.0nm(15kV)

元素成分分析(EDS):元素范围Be4-U92,探测限≥0.1wt%

截面结构观测:样品倾斜角度0-70°,景深≥100μm

颗粒尺寸分布:测量精度±2nm(标样校准后)

镀层厚度测量:垂直分辨率0.5nm,适用厚度10nm-50μm

检测范围

金属材料:铝合金晶界腐蚀、钢件断口分析

半导体器件:芯片焊点缺陷、纳米线阵列结构

生物样品:植物细胞壁结构、昆虫表皮微纳特征

陶瓷材料:晶粒生长形态、孔隙率测定

高分子材料:共混相界面分析、纤维取向度测量

检测方法

ASTM E1508-98:电子显微镜能谱定量分析标准

ISO 16700:2016:扫描电镜校准规程(放大倍率)

GB/T 17359-2012:微束分析能谱法定量分析通则

GB/T 27788-2020:微束分析扫描电镜图像分辨力测量方法

ISO 21363:2020:纳米颗粒尺寸分布的TEM/SEM测定法

检测设备

TESCAN MIRA系列:场发射SEM,配备BSE/EDS/EBSD三合一探测器

ZEISS Sigma 500:Gemini电子光学系统,低真空模式≤10Pa

Hitachi SU8000系列:冷场发射源,二次电子分辨率0.6nm@15kV

JEOL JSM-7900F:全对中光路设计,束流稳定性≤0.4%/h

Thermo Scientific Apreo 2:单色器技术束斑直径<0.5nm@1kV

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是与"sem扫描电镜检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

    材料检测服务

    专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。

    化工产品分析

    精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。

    环境检测服务

    提供土壤、水质、气体等环境检测服务,助力环境保护与污染治理,共建绿色家园。包括VOCs检测、重金属污染分析、水质生物毒性测试等。

    科研检测认证

    凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。