半导体器件耐压测试

检测项目

1.耐压性能测试：击穿电压、耐压强度、绝缘耐压、直流耐压、交流耐压、脉冲耐压、局部放电、电晕起始电压、表面闪络电压、介质击穿、电场分布、电压耐受时间、过电压承受能力、绝缘恢复特性等。

2.绝缘性能测试：绝缘电阻、介质强度、介电常数、损耗角正切、体积电阻率、表面电阻率、绝缘介电强度、绝缘老化、绝缘寿命、绝缘材料耐久性、界面绝缘性能、封装绝缘完整性等。

3.漏电流测试：反向漏电流、正向漏电流、栅极漏电流、集电极漏电流、发射极漏电流、静态漏电流、动态漏电流、热致漏电流、场致漏电流、偏置漏电流、饱和漏电流、截止漏电流、亚阈值漏电流等。

4.击穿特性测试：雪崩击穿、齐纳击穿、热击穿、二次击穿、软击穿、硬击穿、击穿能量、击穿恢复时间、击穿电压温度系数、击穿场强、击穿电流密度、击穿模式分析等。

5.温度特性测试：高温耐压、低温耐压、温度循环耐压、热冲击耐压、结温影响、温度系数、热稳定性、高温漏电流、低温漏电流、热循环耐久性、温度梯度效应等。

6.环境适应性测试：湿热耐压、盐雾耐压、振动耐压、冲击耐压、低气压耐压、高海拔耐压、辐射耐压、化学腐蚀耐压、粉尘环境耐压、霉菌环境耐压等。

7.机械应力测试：弯曲耐压、拉伸耐压、压缩耐压、扭矩耐压、疲劳耐压、冲击耐压、振动耐压、封装完整性、引线强度、焊接点耐久性、机械冲击耐受性、振动疲劳性能等。

8.寿命与可靠性测试：加速老化耐压、循环耐压、寿命测试、失效分析、可靠性评估、平均无故障时间、失效率、退化机制、寿命预测模型、加速应力测试等。

9.安全性能测试：过电压保护、短路保护、过载保护、热保护、绝缘保护、防爆性能、安全间距、爬电距离、电气间隙、接地连续性、故障安全机制等。

10.电磁兼容性测试：辐射抗扰度、传导抗扰度、静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌抗扰度、电压暂降抗扰度、谐波抗扰度、磁场抗扰度、频率抗扰度、瞬态过电压抗扰度等。

11.功能测试：开关特性、导通电阻、关断时间、反向恢复时间、阈值电压、饱和电压、放大系数、跨导、输出特性、输入特性、转移特性、频率响应等。

12.结构完整性测试：封装强度、密封性、热阻、机械冲击、振动耐久、材料兼容性、界面稳定性、热膨胀系数、机械疲劳寿命等。

检测范围

二极管、晶体管、场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管、功率模块、集成电路、光电器件、传感器、微机电系统、射频器件、微波器件、高压二极管、齐纳二极管、肖特基二极管、双极结型晶体管、金属氧化物半导体场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管模块、智能功率模块、半导体激光器、发光二极管、光电探测器、太阳能电池、电荷耦合器件、微处理器、存储器芯片、模拟集成电路、数字集成电路、混合信号集成电路、电源管理集成电路、射频集成电路、微波集成电路、高压集成电路、绝缘体上硅器件、氮化镓器件、碳化硅器件、功率二极管、快速恢复二极管、晶闸管、门极可关断晶闸管、集成门极换流晶闸管、半导体继电器、光电耦合器、电压稳压器、电流调节器、温度传感器、压力传感器、加速度传感器、图像传感器、显示驱动器、音频放大器、射频放大器、微波放大器、振荡器、滤波器、调制解调器、转换器、逻辑门、触发器、计数器、寄存器、微控制器、数字信号处理器、现场可编程门阵列、专用集成电路、系统级芯片等。

检测方法/标准

国际标准：

IEC 60747-1、IEC 60747-2、IEC 60747-3、IEC 60747-5、IEC 60747-6、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-10、IEC 60747-11、IEC 60747-12、IEC 60747-13、IEC 60747-14、IEC 60747-15、JESD22-A108、JESD78、IEC 61000-4-2、IEC 61000-4-3、IEC 61000-4-4、IEC 61000-4-5、IEC 61000-4-6、IEC 61000-4-8、IEC 61000-4-11、ISO 16750-1、ISO 16750-2、ISO 16750-3、ISO 16750-4、ISO 16750-5

国家标准：

GB/T 4589.1、GB/T 4589.2、GB/T 4589.3、GB/T 4589.4、GB/T 4589.5、GB/T 4589.6、GB/T 4589.7、GB/T 4589.8、GB/T 4589.9、GB/T 4589.10、GB/T 4589.11、GB/T 4589.12、GB/T 4589.13、GB/T 4589.14、GB/T 4589.15、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4、GB/T 2423.5、GB/T 2423.6、GB/T 2423.10、GB/T 2423.17、GB/T 2423.21、GB/T 2423.22、GB/T 2423.34、GB/T 2423.37、GB/T 2423.38、GB/T 2423.50、GB/T 2423.51、GB/T 2423.56、GB/T 2423.58、GB/T 17626.2、GB/T 17626.3、GB/T 17626.4、GB/T 17626.5、GB/T 17626.6、GB/T 17626.8、GB/T 17626.11、GB/T 17626.13、GB/T 17626.14、GB/T 17626.17、GB/T 17626.18、GB/T 17626.29、GB/T 17626.34

检测设备

1.高压测试仪：用于施加高电压并测量击穿电压与耐压强度；可调电压输出范围广，漏电流监测精确，自动保护功能完善，数据记录与分析系统集成。

2.绝缘电阻测试仪：检测器件绝缘电阻与介质强度；高阻测量能力，电压施加稳定，多通道测试支持，温度补偿功能。

3.漏电流测试系统：测量各种漏电流参数；精密电流计，温度控制单元，动态测试模式，长期稳定性高。

4.温度环境箱：提供可控温度环境进行温度特性与热稳定性测试；温度范围从零下70摄氏度至零上180摄氏度，湿度控制可选，循环程序可编程。

5.击穿电压测试装置：专门用于击穿特性分析与模式识别；高压源输出稳定，电流限制保护，安全隔离设计，实时数据采集。

6.局部放电检测仪：检测局部放电现象与电晕起始；高频传感器灵敏度高，信号处理算法先进，放电定位功能，图形化结果显示。

7.热成像仪：非接触测温用于热分布与热失控分析；红外摄像头分辨率高，温度灵敏度优异，图像分析软件集成，多区域测温支持。

8.振动试验机：进行机械应力与振动耐久测试；可调频率范围宽，加速度控制精确，正弦与随机振动模式，耐久性评估全面。

9.盐雾试验箱：模拟腐蚀环境进行盐雾耐压测试；盐雾浓度精确控制，温度湿度可调节，腐蚀速率监测，长期测试可靠性高。

10.电磁兼容测试系统：用于电磁兼容性测试与抗扰度评估；信号发生器输出稳定，接收机灵敏度高，屏蔽室环境隔离，标准兼容性强。

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"半导体器件耐压测试"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。