电致发光(EL)成像缺陷分析:正向偏压10-40V,电流密度0.5-1.5A/cm²
红外热成像温差检测:温度分辨率≤0.05℃,空间分辨率≤1.5mm
机械载荷测试:静态载荷2400Pa±5%,循环次数2000次
电流-电压特性曲线偏移量:Isc偏差≤3%,Voc偏差≤2%
超声波探伤定位精度:频率5-20MHz,定位误差≤0.5mm
单晶硅光伏组件(PERC/TOPCon结构)
多晶硅光伏组件(常规铝背场结构)
碲化镉(CdTe)薄膜组件
铜铟镓硒(CIGS)薄膜组件
双玻/透明背板复合型组件
IEC 61215-2:2021 地面用晶体硅组件隐裂评估方法
ASTM E1934-2020 红外热成像法缺陷检测标准
GB/T 36963-2018 光伏组件电致发光缺陷测试方法
ISO 18509:2017 机械载荷试验后隐裂扩展评估规范
GB/T 37890-2019 层压件超声波探伤技术要求
EL成像系统:PVEL-3000型(分辨率2048×2048像素,量子效率>65%)
红外热像仪:FLIR T865(热灵敏度30mK@30℃,空间分辨率1.1mrad)
动态机械载荷试验机:Zwick/Roell BZ100kN(载荷精度±0.5%,位移分辨率1μm)
IV曲线测试仪:Keysight B2900A(电流精度±0.02%,电压范围0-100V)
超声扫描显微镜:Sonoscan D9500(扫描频率100MHz,Z轴分辨率10μm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光伏组件隐裂检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。