静态压力法泄漏率测定:测试压力范围0.1-10MPa,灵敏度1×10⁻¹² Pa·m³/s
动态流量法示踪气体分析:氦气浓度梯度0.1%-5%,流量分辨率0.01sccm
真空累积法密封评估:真空度维持≤1×10⁻⁴Pa,累积时间2-24h
局部扫描法漏点定位:探头移动速度≤5mm/s,空间分辨率±2mm
温度循环法应力测试:温度范围-196℃~300℃,变温速率5℃/min
高压储氢容器:Ⅲ型/Ⅳ型复合材料气瓶
真空镀膜设备:磁控溅射腔体、分子泵组
半导体封装:晶圆级封装结构、MEMS器件
核工业部件:燃料棒包壳管、主回路管道
航天器部件:推进剂贮箱、舱体密封结构
ASTM E499-11:质谱仪示踪气体检漏标准方法
ISO 20486:2017:泄漏量校准与测量不确定度评定
GB/T 12604.7-2021:无损检测术语-泄漏检测
GB/T 34637-2017:真空技术氦质谱检漏方法
ASME BPVC Section V Art.10:承压设备真空箱检漏规范
Leybold PHOENIX L300i:双通道质谱系统,最小可检漏率5×10⁻¹³mbar·L/s
Agilent VSF-5440:四极杆质谱仪带自动扫描平台,支持SNR>100:1
INFICON UL1000 Fab:半导体专用检漏台,集成PLC控制系统
Pfeiffer HLT560:高真空复合检漏系统,温度补偿精度±0.1%FS
ESCO VACUUBRAND MD4C:化学隔膜泵组,极限真空0.01mbar
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与氦检漏率检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。