检测项目

硫2p轨道结合能测定（160-170 eV范围）

硫化学态分析（硫酸盐/亚硫酸盐/硫醚/噻吩等）

元素分布成像（空间分辨率≤3 μm）

表面硫浓度定量（检出限0.1 at%）

深度剖析（溅射速率0.1-2 nm/s）

检测范围

过渡金属硫化物催化剂（MoS2/WS2/CoMoS等）

锂硫电池正极复合材料（S@C/S@TiO2等）

含硫高分子材料（聚苯硫醚/磺化聚合物）

金属表面腐蚀产物（FeS/FeS2/Cu2S等）

环境颗粒物中硫酸盐/有机硫污染物

检测方法

ASTM E1523-15：表面化学分析中能量标定程序

ISO 15472:2010：XPS仪器性能参数校准规范

GB/T 28894-2012：表面化学分析-X射线光电子能谱通则

S-JIS K 0147:2018：XPS定量分析方法指南

GB/T 40511-2021：光电离能谱法定量分析表面元素

检测设备

TFS K-Alpha+：单色化Al Kα源（1486.6 eV），半球能量分析器（0.5 eV分辨率）

PHI VersaProbe IV：多模式X射线源（Al/Mg双阳极），3D成像功能

Scienta ESCALAB Xi+：高传输透镜系统（±0.02 eV能量稳定性）

ULVAC-PHI Quantera II：深能级分析模式（5 keV Ar+溅射）

Shimadzu AXIS Supra：同步辐射兼容型高灵敏度探测器