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红外薄膜样品怎么测检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:53:59
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红外薄膜样品怎么测检测概述:红外薄膜样品的检测需通过专业手段评估其光学性能、结构特性及耐久性。核心检测项目包括光谱透过率、厚度均匀性、折射率分布等参数,需依据ASTM、ISO及GB/T标准规范操作流程。本文系统阐述红外薄膜的检测方法体系及设备选型要点。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

光谱透过率:测量400-25000nm波长范围内的透射曲线

膜层厚度:精度要求±2nm(100-5000nm量程)

折射率分布:测定2.0-4.5范围内的梯度变化

表面粗糙度:Ra≤1nm(10μm×10μm扫描区域)

附着力强度:划痕法测试临界载荷≥20N

环境稳定性:85℃/85%RH条件下240小时老化测试

检测范围

光学级硫系玻璃基红外薄膜

硅基/锗基半导体红外增透膜

柔性聚合物基底红外滤光膜

金属氧化物复合红外反射膜

医疗设备用抗菌红外功能涂层

检测方法

ASTM E424-71(2015):薄膜太阳吸收比测定方法

ISO 13697:2006 光学薄膜反射比测量规范

GB/T 2680-94 建筑玻璃可见光透射比测定方法

ISO 14706:2014 表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法

GB/T 31563-2015 金属覆盖层厚度测量扫描电镜法

ASTM D3359-17 胶带法附着力测试标准

检测设备

PerkinElmer Spectrum Two FTIR:配备积分球附件,支持0.78-25μm波段分析

Veeco Dektak XTL台阶仪:垂直分辨率0.1nm,最大扫描长度50mm

J.A. Woollam M-2000U椭偏仪:70°入射角测量精度±0.01°

Bruker ContourGT-X3白光干涉仪:1Å垂直分辨率三维形貌重建

Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计:双单色器设计,杂散光≤0.00005%

CETR UMT TriboLab摩擦磨损试验机:最大载荷50N的划痕测试模块

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与红外薄膜样品怎么测检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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