温度控制精度:±0.1℃(-40℃~150℃)
温度均匀性:±0.3℃(工作区域)
制冷/制热速率:≥3℃/min(空载条件)
长期稳定性:±0.5℃/24h(额定负载)
功耗特性:额定功率偏差≤5%
噪声水平:≤55dB(A)(距离1m)
绝缘电阻:≥20MΩ(500V DC)
电子元件:集成电路测试、光电器件老化试验
生物医药:疫苗存储验证、酶反应实验环境模拟
化工材料:高分子材料相变测试、催化剂活性评估
精密仪器:光谱仪温控模块验证、激光器热管理测试
食品工业:巧克力结晶过程模拟、乳制品稳定性试验
ISO 17089-1:2019《恒温设备性能测试方法》
ASTM E230/E230M-12《热电偶温度测量标准规范》
GB/T 28848-2020《半导体致冷装置通用技术条件》
GB/T 20154-2014《低温恒温槽性能测试方法》
IEC 61010-2-011:2016《测量控制设备安全要求》
JJF 1030-2010《恒温槽技术性能测试规范》
Fluke 1523测温仪:四线制PT100铂电阻测量系统(精度±0.02℃)
Agilent 34972A数据采集器:支持32通道温度同步记录(分辨率0.001℃)
Tescor TE-2000热流计:热通量测量范围0~2000W/m²(精度±3%)
Brüel & Kjær 2250声级计:A计权噪声测量(频率范围10Hz~20kHz)
Chroma 19032耐压测试仪:绝缘电阻/耐压测试(0~5kV DC)
Keysight N6705C电源分析仪:功率测量精度±0.05%+3mA
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与半导体致冷恒温槽检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。