超结构衍射线检测

检测项目

晶格常数测定：精度±0.001 Å（1×10^-3Å），测量范围2-20 Å

超晶格周期调制分析：分辨率达0.005 nm^-1，扫描角度10°-120°

相组成定量分析：检出限0.5 wt%，相对标准偏差≤1.2%

残余应力测量：灵敏度±5 MPa，应变分辨率1×10^-5

织构系数计算：极图采集步长0.5°，ODF重构误差＜3%

检测范围

金属合金：镍基高温合金（Inconel 718）、形状记忆合金（Ni-Ti）等

陶瓷材料：氧化锆(ZrO₂)、碳化硅(SiC)等超硬涂层

半导体材料：GaN/AlN异质结、钙钛矿薄膜(PbI₃)

高分子复合材料：液晶聚合物(LCP)/纳米粘土复合体系

纳米材料：量子点(CdSe)、金属有机框架(MOF-5)等

检测方法

ASTM E975-20：X射线衍射定量相分析标准方法

ISO 22278:2020：薄膜材料结晶度测定规程

GB/T 13305-2008：金属材料X射线应力测定方法

GB/T 36075-2018：纳米材料晶体结构表征技术规范

JIS K 0131-2016：多晶材料织构分析通则

检测设备

X'Pert³ MRD XL衍射仪：配备Hybrid Pixel探测器，Cu靶Kα辐射(λ=1.5406Å)，角度重现性±0.0001°

D8 ADVANCE衍射系统：配置Eulerian cradle测角仪，支持2θ/θ联动扫描(5°-165°)

SmartLab 9kW旋转阳极系统：高亮度光源(40kV/250mA)，配备高分辨率单晶分析附件

μ-X360ns微区衍射仪：空间分辨率10μm，集成激光共聚焦定位系统

T-TRIS应力分析仪：双探测器设计(PSD+VANTEC-1)，应变测量速率＞100点/小时

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"超结构衍射线检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。