检测项目
透射率检测：波长范围300-2500nm，精度±0.5%
折射率测定：波长覆盖400-1700nm，分辨率±0.0002
色度坐标分析：依据CIE 1931标准，色差ΔE≤0.1
表面粗糙度检测：Ra值范围0.1nm-10μm，重复性±1%
光学均匀性测试：波前畸变≤λ/10@632.8nm
检测范围
光学玻璃：包括透镜、棱镜等透光元件，检测透射率与折射率均匀性
聚合物薄膜：如PET、PC材料，重点分析雾度与色偏
金属镀膜层：测量反射率、膜厚及附着力
半导体晶圆：表面缺陷检测与厚度均匀性分析
光学涂层：AR膜、IR截止膜的光谱特性验证
检测方法
透射率检测：ASTM E903、GB/T 2410
折射率测定：ISO 14782、GB/T 7962.1
色度分析：ISO 11664、GB/T 3979
表面粗糙度：ISO 4287、GB/T 1031
光学均匀性：ISO 10110-4、GB/T 13754
检测设备
分光光度计：PerkinElmer Lambda 950，波长范围175-3300nm
椭偏仪：J.A. Woollam M-2000D，支持0.7-6.5eV光谱分析
干涉仪：ZYGO Verifire HD，精度λ/100 PV值
表面轮廓仪：Bruker ContourGT-X8，垂直分辨率0.01nm
色差计：Konica Minolta CM-3700A，10nm光谱间隔