检测项目

透射率检测：波长范围300-2500nm，精度±0.5%

折射率测定：波长覆盖400-1700nm，分辨率±0.0002

色度坐标分析：依据CIE 1931标准，色差ΔE≤0.1

表面粗糙度检测：Ra值范围0.1nm-10μm，重复性±1%

光学均匀性测试：波前畸变≤λ/10@632.8nm

检测范围

光学玻璃：包括透镜、棱镜等透光元件，检测透射率与折射率均匀性

聚合物薄膜：如PET、PC材料，重点分析雾度与色偏

金属镀膜层：测量反射率、膜厚及附着力

半导体晶圆：表面缺陷检测与厚度均匀性分析

光学涂层：AR膜、IR截止膜的光谱特性验证

检测方法

透射率检测：ASTM E903、GB/T 2410

折射率测定：ISO 14782、GB/T 7962.1

色度分析：ISO 11664、GB/T 3979

表面粗糙度：ISO 4287、GB/T 1031

光学均匀性：ISO 10110-4、GB/T 13754

检测设备

分光光度计：PerkinElmer Lambda 950，波长范围175-3300nm

椭偏仪：J.A. Woollam M-2000D，支持0.7-6.5eV光谱分析

干涉仪：ZYGO Verifire HD，精度λ/100 PV值

表面轮廓仪：Bruker ContourGT-X8，垂直分辨率0.01nm

色差计：Konica Minolta CM-3700A，10nm光谱间隔