透射率检测:波长范围300-2500nm,精度±0.5%
折射率测定:波长覆盖400-1700nm,分辨率±0.0002
色度坐标分析:依据CIE 1931标准,色差ΔE≤0.1
表面粗糙度检测:Ra值范围0.1nm-10μm,重复性±1%
光学均匀性测试:波前畸变≤λ/10@632.8nm
光学玻璃:包括透镜、棱镜等透光元件,检测透射率与折射率均匀性
聚合物薄膜:如PET、PC材料,重点分析雾度与色偏
金属镀膜层:测量反射率、膜厚及附着力
半导体晶圆:表面缺陷检测与厚度均匀性分析
光学涂层:AR膜、IR截止膜的光谱特性验证
透射率检测:ASTM E903、GB/T 2410
折射率测定:ISO 14782、GB/T 7962.1
色度分析:ISO 11664、GB/T 3979
表面粗糙度:ISO 4287、GB/T 1031
光学均匀性:ISO 10110-4、GB/T 13754
分光光度计:PerkinElmer Lambda 950,波长范围175-3300nm
椭偏仪:J.A. Woollam M-2000D,支持0.7-6.5eV光谱分析
干涉仪:ZYGO Verifire HD,精度λ/100 PV值
表面轮廓仪:Bruker ContourGT-X8,垂直分辨率0.01nm
色差计:Konica Minolta CM-3700A,10nm光谱间隔
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光学量检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。