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光学量检测

  • 原创官网
  • 2025-03-18 14:20:46
  • 关键字:光学量测试方法,光学量测试仪器,光学量测试周期
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光学量检测概述:光学量检测是通过精密仪器对材料或产品的光学特性进行定量分析的技术,涵盖透射率、折射率、色度等关键参数。其核心在于依据国际及国家标准,结合高精度设备,确保检测数据的可靠性与重复性,广泛应用于光学元件、显示材料、镀膜产品等领域的质量控制与研发验证。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

透射率检测:波长范围300-2500nm,精度±0.5%

折射率测定:波长覆盖400-1700nm,分辨率±0.0002

色度坐标分析:依据CIE 1931标准,色差ΔE≤0.1

表面粗糙度检测:Ra值范围0.1nm-10μm,重复性±1%

光学均匀性测试:波前畸变≤λ/10@632.8nm

检测范围

光学玻璃:包括透镜、棱镜等透光元件,检测透射率与折射率均匀性

聚合物薄膜:如PET、PC材料,重点分析雾度与色偏

金属镀膜层:测量反射率、膜厚及附着力

半导体晶圆:表面缺陷检测与厚度均匀性分析

光学涂层:AR膜、IR截止膜的光谱特性验证

检测方法

透射率检测:ASTM E903、GB/T 2410

折射率测定:ISO 14782、GB/T 7962.1

色度分析:ISO 11664、GB/T 3979

表面粗糙度:ISO 4287、GB/T 1031

光学均匀性:ISO 10110-4、GB/T 13754

检测设备

分光光度计:PerkinElmer Lambda 950,波长范围175-3300nm

椭偏仪:J.A. Woollam M-2000D,支持0.7-6.5eV光谱分析

干涉仪:ZYGO Verifire HD,精度λ/100 PV值

表面轮廓仪:Bruker ContourGT-X8,垂直分辨率0.01nm

色差计:Konica Minolta CM-3700A,10nm光谱间隔

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光学量检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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