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二次枝晶轴检测

  • 原创官网
  • 2025-03-19 15:47:41
  • 关键字:二次枝晶轴测试范围,二次枝晶轴测试标准,二次枝晶轴测试案例
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二次枝晶轴检测概述:二次枝晶轴检测是材料微观组织分析的关键环节,重点关注高温合金、铝合金等材料的凝固缺陷与性能评估。检测涵盖枝晶臂间距、取向角度、分布均匀性等核心参数,通过金相法、扫描电镜等技术手段实现精准测量,为铸造工艺优化和失效分析提供数据支持。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

二次枝晶臂间距测量:典型参数范围10-200μm

枝晶取向角度分析:测量偏差范围±0.5°

枝晶长度分布统计:典型值50-1000μm

二次枝晶长径比计算:范围1.5-10:1

枝晶间共晶相含量检测:精度±0.5vol%

枝晶偏析系数测定:采用EPMA点扫描分析

检测范围

高温合金铸件:镍基/钴基合金涡轮叶片

铝合金压铸件:A356/A380系列发动机壳体

不锈钢连铸坯:304/316L系轧制坯料

镁合金精密铸件:AZ91D系列结构件

钛合金锻件:TC4/TC11系航空部件

检测方法

金相分析法:ASTM E3-2011,GB/T 13298-2015

电子背散射衍射(EBSD):ISO 21466:2020

扫描电镜定量分析:ASTM E1508-2012,GB/T 17359-2023

X射线断层扫描:ISO 21302:2021

电子探针显微分析(EPMA):GB/T 15247-2014

检测设备

金相显微镜:Zeiss Axio Imager M2m,放大倍数50-1000X

场发射扫描电镜:Hitachi SU5000,分辨率1.0nm@15kV

电子背散射衍射系统:Oxford Symmetry S2,角度分辨率0.1°

X射线三维显微镜:Zeiss Xradia 620 Versa,体素分辨率0.7μm

电子探针分析仪:JEOL JXA-8530F,束流稳定性±0.1%

图像分析软件:Olympus Stream Motion 2.4,符合ASTM E1245

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与二次枝晶轴检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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