检测项目

存储容量误差：标称容量与实际可用容量偏差（±3%以内）

读写速度稳定性：连续写入速度（10-200 MB/s）、读取速度波动值（≤5%）

耐久性测试：擦写循环次数（1万-10万次）、数据完整性验证

温度适应性：工作温度（-25℃至85℃）、存储温度（-40℃至105℃）

数据保持能力：断电状态下数据保存周期（1-10年）

检测范围

SD/TF存储卡：Class 10至UHS-III等级产品

SIM卡：UICC芯片及嵌入式SE安全元件

智能IC卡：接触式/非接触式CPU卡（符合ISO 7816标准）

磁条卡：高矫顽力（HiCo）与低矫顽力（LoCo）介质

RFID标签卡：高频（13.56MHz）与超高频（860-960MHz）产品

检测方法

ASTM F2659-18：非易失性存储器耐久性评估标准

ISO/IEC 10373-6:2020：智能卡机械强度与电气特性测试方法

GB/T 26225-2010：移动存储介质通用规范（容量标定与误差范围）

SJ/T 11377-2021：闪存类产品数据保持能力试验规程

TIA-1096-A：射频识别卡环境适应性测试程序

检测设备

CrystalDiskMark 8.0.4 x64：存储介质读写速度基准测试系统（支持NVMe协议）

Terasic HSMC-SDI高速测试平台：多通道并行数据写入/擦除设备（最大支持128通道）

Temptronic TPO-325温控箱：宽温区循环测试装置（精度±0.5℃）

Ametek CTS-740振动台：机械冲击与振动模拟系统（频率范围5-3000Hz）

Aglient N6705C直流电源分析仪：功耗与电气特性测量模块（分辨率1μA）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与卡片存储量检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。