检测项目

痕量元素定量分析（检出限：0.01-100 ppb）

同位素丰度比测定（精度：±0.001%）

有机化合物分子量测定（质量范围：50-3000 Da）

多元素同步扫描分析（同时检测元素数≥30）

表面污染物深度剖析（深度分辨率：5 nm）

检测范围

高纯金属材料（纯度≥99.999%）

半导体晶圆表面污染物

地质样品同位素组成

生物医药中的代谢产物

环境样品持久性有机污染物

检测方法

ASTM E3047-22《双聚焦质谱法测定高纯材料痕量杂质》

ISO 18114:2021《表面化学分析-二次离子质谱法》

GB/T 32266-2015《高分辨质谱分析方法通则》

GB/T 40129-2021《表面化学分析-辉光放电质谱法》

ISO 21362:2019《纳米技术-纳米颗粒表征的质谱方法》

检测设备

Thermo Fisher Scientific Neptune XT（多接收器系统，质量分辨率≥20000）

Shimadzu ICPMS-2040/HS（高频发生器频率：27.12 MHz）

Agilent 8900 Triple Quadrupole LC/MS（碰撞池压力：1-10 mTorr）

PerkinElmer NexION 5000（四极杆质量过滤器带宽：0.3-3.0 amu）

JEOL JMS-T200GC AccuTOF（飞行管长度：2.5 m）