1.导体直流电阻率测试:测量范围0.01μΩ·m至10kΩ·m,温度条件-50℃~300℃
2.绝缘材料体积电阻率测定:测试电压DC100V~1000V,精度±1%
3.接地系统导通性检测:最大测试电流30AAC/DC,分辨率0.1mΩ
4.接触电阻动态监测:接触压力0.1N~50N可调,采样频率10kHz
5.半导体薄层电阻分析:四探针法测量厚度0.1μm~5mm样品
6.复合材料各向异性导电测试:X/Y/Z三轴同步测量系统
1.金属材料:铜合金导线、铝合金结构件、贵金属触点等
2.半导体器件:硅晶圆片、GaN外延层、ITO透明导电膜
3.绝缘介质:环氧树脂封装料、陶瓷基板、高分子薄膜
4.电子元件:PCB线路板、连接器接点、继电器触点
5.功能复合材料:碳纤维增强塑料、导电橡胶、电磁屏蔽涂层
1.ASTMB193-20《导电材料电阻率标准试验方法》
2.ISO3915:2021《塑料材料体积电阻率测定》
3.GB/T3048-2007《电线电缆电性能试验方法》
4.IEC60404-13:2018《磁性材料直流电阻测量》
5.GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》
6.JISC2525:2019《金属接触件接触电阻测试规范》
1.Keysight34461A数字万用表:6½位分辨率,最大量程1000V/3A
2.Keithley6517B静电计:10aA电流分辨率,200TΩ阻抗测量能力
3.MeggerDLRO10HD接地电阻测试仪:30A大电流输出模式
4.AgilentB1505A功率器件分析仪:支持脉冲IV特性测试模式
5.HiokiRM3545微电阻计:0.01μΩ基本精度带四线制补偿
6.Tinsley5896C高阻计:测量范围10^3~10^18Ω带温控夹具
7.Fluke1587FC绝缘测试仪:1000V耐压测试带极化指数计算
8.Chroma11040接触阻抗分析系统:动态接触力闭环控制装置
9.OmicronBCP-10四探针测试台:自动晶圆级多点扫描平台
10.ZEM-3热电特性测量系统:同步采集塞贝克系数与电导率数据
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与电阻勘探检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。