检测项目

1.磁场强度均匀性：测量范围0.1-20T，空间分辨率±0.5%

2.晶体生长速率：精度±0.01mm/h，动态监测频率10Hz

3.氧含量分布：检测限0.1ppma，面扫描分辨率5μm

4.位错密度测定：灵敏度≥10³cm⁻²，EBSD成像精度0.1°

5.温度梯度控制：轴向梯度±0.2℃/mm，径向偏差≤1℃

检测范围

1.半导体单晶材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)

2.磁性功能晶体：钇铁石榴石(YIG)、钆镓石榴石(GGG)

3.光学级晶体：蓝宝石(Al₂O₃)、氟化钙(CaF₂)、硅酸钇镥(LYSO)

4.高温超导材料：钇钡铜氧(YBCO)、铋锶钙铜氧(BSCCO)

5.特种金属晶体：钛合金单晶、镍基高温合金单晶

检测方法

ASTMF1213-18半导体单晶生长过程磁场控制规范

ISO14707:2015表面化学成分分析-辉光放电光谱法

GB/T13301-2019金属材料单晶拉伸试验方法

IEC60749-27:2020半导体器件机械应力测试标准

JISH0605-2016硅单晶缺陷X射线形貌测定方法

检测设备

1.QuantumDesignPPMS-14T：综合物性测量系统，支持14T磁场环境下的电输运特性测试

2.ThermoFisherNicoletiS50FTIR：傅里叶变换红外光谱仪，氧含量检测波长范围7800-350cm⁻¹

3.BrukerD8DISCOVER：高分辨率X射线衍射仪，配备Eiger2R500K探测器

4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD：电子背散射衍射系统，空间分辨率达5nm

5.JEOLJXA-8530F：场发射电子探针分析仪，波谱仪分辨率5eV

6.KeysightB1500A：半导体参数分析仪，最小电流分辨率0.1fA

7.MahrFederalMarSurfLD120：接触式轮廓仪，纵向分辨率0.8nm

8.ZEISSAxioImager.M2m：金相显微镜，配备微分干涉对比(DIC)模块

9.Agilent7900ICP-MS：电感耦合等离子体质谱仪，检出限达ppt级

10.LinkamTS1500：高温热台系统，最高温度1500℃±0.5℃

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与磁场直拉法检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。