1.导电性测试:测量电阻率(≤0.1Ω·cm)、阻抗匹配(±5%公差)及导通连续性(漏电流<1μA)。
2.耐温性能:评估高温老化(150℃/1000h)、热循环(-40℃~125℃/500次)后的形变率(≤0.5%)。
3.机械强度:测试剥离强度(≥1.5N/mm)、弯曲疲劳(10万次循环无断裂)及硬度(HV≥200)。
4.环境适应性:盐雾试验(5%NaCl/96h)、湿热循环(85℃/85%RH/240h)后的腐蚀面积(≤3%)。
5.尺寸精度:线宽公差(±10μm)、层间对位偏差(≤15μm)及厚度均匀性(CV值<5%)。
1.柔性印刷电路板(FPC):用于可穿戴设备与折叠屏的聚酰亚胺基材电路。
2.刚性电路板(PCB):FR-4环氧树脂基多层板及高频PTFE基板。
3.陶瓷基板:氧化铝/氮化铝封装基板与厚膜混合集成电路。
4.金属化薄膜:溅射铜/银的PET绝缘膜与电磁屏蔽材料。
5.3D打印电子件:导电油墨直写成型的立体互连结构。
1.ASTMB193-20:导电材料电阻率四探针法。
2.IPC-TM-6502.4.9:热应力分层测试与TMA热机械分析。
3.ISO14577-1:2015:纳米压痕法测定薄膜硬度与弹性模量。
4.GB/T2423.17-2008:交变湿热试验箱模拟气候老化。
5.IEC60068-2-11:2021:盐雾腐蚀加速试验方法。
1.四探针电阻测试仪(RTS-9):量程0.1μΩ·cm~100kΩ·cm,精度±0.05%。
2.热冲击试验箱(ESPECTSE-11-A):温变速率30℃/min,温度范围-70℃~200℃。
3.万能材料试验机(Instron5967):最大载荷50kN,配备DIC非接触应变测量模块。
4.X射线荧光测厚仪(FischerXDV-μ):分辨率0.01μm,支持多层镀层分析。
5.激光共聚焦显微镜(OlympusOLS5000):Z轴分辨率1nm,3D形貌重构功能。
6.气相色谱质谱联用仪(Agilent8890/5977B):VOC释放量检测限0.01ppm。
7.高频网络分析仪(KeysightN5227B):频率范围10MHz~67GHz,S参数测量。
8.氙灯老化箱(Q-LABXenon-3000):光谱匹配度CIE85%,辐照度0.55W/m²。
9.扫描电镜(HitachiSU5000):分辨率1nm,配备EDS能谱分析探头。
10.红外热成像仪(FLIRT865):热灵敏度<20mK,空间分辨率1.1mrad。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与成形电路检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。